概述:
TSM超細顆粒粒度分析儀是一種基于消光法原理的新型顆粒粒度分析儀器,用于測量超細顆粒的粒度分布。本儀器由主機,計算機和打印機,儀器操作軟件等組成。儀器具有操作簡(jiǎn)單,測量時(shí)間短,操作軟件良好的人機對話(huà)界面等優(yōu)點(diǎn)??蓮V泛用于電子,光學(xué),化工,醫藥等行業(yè)測量超細固體顆粒、懸乳劑、懸浮液等的顆粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方圖形式給出被測顆粒的粒度分布和累積分布的測量結果,以及D32, Dv50等多種平均粒徑和比表面積。
主機內包括光源,光學(xué)系統,測量樣品池,光電信號轉換及放大系統,A/D數據采集卡等。主機輸出信號通過(guò)USB電纜與計算機的USB口相連接,計算機對主機測量進(jìn)行控制和數據處理,并打印輸出結果。
技術(shù)特點(diǎn):
1、大功率白色光源
2、采用國產(chǎn)光譜接收器
3、集多年研究之成果,消光理論的應用
4、反演算法,保證顆粒測量的準確
5、USB接口,儀器與計算機一體設備,10.8寸觸摸屏,直接顯示數據與粒徑分布,可連接U盤(pán)、打印機、鼠標等。
6、微量固定樣品池,超高感應靈敏度,僅需少量樣品
7、軟件個(gè)性化,提供測量向導等眾多功能,方便用戶(hù)操作;
8、測量結果輸出數據豐富,保存在數據庫中,能用任意參數,如操作者姓名,樣品名,日期,時(shí)間等進(jìn)行調用分析,與其他軟件實(shí)現數據共享;
9、儀器造型美觀(guān),體積小重量輕;
10、測量精度高,重復性好,測量時(shí)間短;
11、軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶(hù)選擇,滿(mǎn)足用戶(hù)查找被測顆粒折射率要求;
12、考慮到測試結果的保密要求,只有操作者才能進(jìn)入相應數據庫讀取數據和處理;
技術(shù)參數:
型號 | TSM-A1 | |
光源功率 | 20W 12V 鹵素燈 | |
接收器 | 國產(chǎn)光學(xué)光譜接收器 | |
粒徑測量范圍 | 0.05μm-10.0μm | |
重復測量誤差 | <>% | |
測量誤差 | <>% (用國家標準顆粒檢驗); | |
數據輸出 | 體積、數量微分分布和累積分布表和圖表;多種統計平均直徑;操作者姓名、單位、樣品名;選用折射率,測量時(shí)間等相關(guān)信息。 | |
用戶(hù)登錄功能 | 可以設置多位用戶(hù)與密碼,由不同的人員操作 | |
審計追蹤功能 | 監控每個(gè)用戶(hù)對設備的所有操作 | |
通訊接口 | USB接口 | |
樣品池 | 固定樣品池4.5mL | |
測量分析時(shí)間 | 正常條件下小于1分鐘(從開(kāi)始測量到顯示分析結果)。 | |
工作環(huán)境溫度 | 5-30 ℃; | |
電源 | 180-240V,50 Hz; | |
外形尺寸 | 320 mm×280 mm×120 mm; | |
重量 | 8kg | |
顯示方式 | 1. 1、內嵌10.8寸超大工業(yè)級別的電腦,無(wú)需另配電腦,一體化設備 2. 2、預安裝軟件,無(wú)電腦適應性問(wèn)題,減少由于更換使用電腦,安裝驅動(dòng)錯誤導致的連接等問(wèn)題 3. 3、配置WIN 10系統,擁有32GB容量、2GB系統內存,無(wú)需使用U盤(pán)轉移數據,儀器內部即可存儲,操作方式觸摸屏與鼠鍵均可使用 |
工作條件:
1.室內溫度:15℃-35℃
2.相對溫度:不大于85%(無(wú)冷凝)
3.建議用交流穩壓電源1KV,無(wú)強磁場(chǎng)干擾。
4.由于在微量級的范圍內的測量,儀器應放在堅固可靠、無(wú)振動(dòng)的工作臺上,并且在少塵條件下進(jìn)行測量。
5.儀器不應放在太陽(yáng)直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。
6.設備必須接地,保證安全和高精度。
7.室內應清潔、防塵、無(wú)腐蝕性氣體。
工作原理:
消光法(Extinction)是光散射顆粒測量技術(shù)中的一種,又稱(chēng)濁度法(Turbidimetry)。
消光法的原理簡(jiǎn)單,測量方便,對儀器設備的要求較低,測量范圍相對較寬,下限為數十個(gè)納米,上限約10mm左右,測量結果準確,重復性好,測量速度快。因此,該方法不僅在膠體化學(xué),高分子化學(xué)以及分析化學(xué)等實(shí)驗室分析中得到了廣泛應用,還在在線(xiàn)測量中得到越來(lái)越多的應用,如對高分子聚合過(guò)程的測量和監控,內燃機排氣中固體微粒粒徑的測量,大型火力發(fā)電廠(chǎng)和原子能電廠(chǎng)中蒸汽濕度和水滴直徑的測量,煙塵排放濃度的監控等。
消光法的測量原理如圖1所示。如果一束直徑遠大于被測顆粒粒徑、強度為I0、波長(cháng)為λ的平行單色光入射到一含有被測顆粒群的介質(zhì)時(shí),由于顆粒對光的散射和吸收作用,光的強度將受到衰減