Dereo 面陣平板探測器應用領(lǐng)域
在任何時(shí)間，任何地點(diǎn)隨時(shí)檢查
-電力工業(yè)、石化工業(yè)、航空航天等領(lǐng)域中的管道及板材焊接質(zhì)量檢測。。。
-鑄件缺陷檢測，例如空隙，熱裂隙及雜質(zhì)。
-復合材料的結構檢測
-文物（博物館，實(shí)驗室，大學(xué)。。。）
Dereo 面陣平板探測器主要特點(diǎn)：
便攜性 -在任何地方都能得到X射線(xiàn)影響
掃描面積 -40x40厘米的有效區域，適合拍攝較大物體
快速安裝 -隨時(shí)得到X射線(xiàn)影像
數字化 -直接得到結果
-數字影像后處理
-Tiff和jpg格式
-容易存檔和報告
-不需要更多的消耗品（膠片和化學(xué)試劑）與暗室
圖像質(zhì)量 -高分辨率 高對比度（14位）
kV范圍 -可以用X射線(xiàn)穿透多種不同的物體和材料，從紙片到70毫米的鐵片
薄 -可以容易地將探測器放入被測物體與障礙物之間
實(shí)時(shí)攝像 -可以實(shí)時(shí)地得到X射線(xiàn)影像，并同步調節曝光參數，已得到影像
靈活性 -可以和任何種類(lèi)的X射線(xiàn)發(fā)生器匹配工作
經(jīng)濟實(shí)惠 -具有非常*功能的高配置的系統，只需要低廉的價(jià)格
Dereo面陣平板探測器
有效面積：41x41cm
分辨率：200μm
灰度：14bits（16bits備選）
Gadox或SCI屏
外形尺寸：530x575x30mm
重量：小于11.4千克
無(wú)能量限制
實(shí)時(shí)成像：
-每秒1幀
-每秒4幀（可選）
Maestro軟件
實(shí)時(shí)濾鏡
可調節查找表（LUT）
放大縮小以及屏幕調整
黑白反轉
圖片旋轉
水平/垂直翻轉
修剪
測量/輪廓
可按需求提供任何語(yǔ)言版本，開(kāi)發(fā)新的軟件工具。
DeReo工作站
-筆記本電腦
-屏幕尺寸15.6英寸或更大
-雙核32-bits或64bits處理器+集成顯卡
-RAM DDR3 Go
-Windows XP 32-bits or Windows 7（32bits or 64bits）
Dereo選件
實(shí)時(shí)成像
Wifi組件
電池供電
通過(guò)Maestro軟件控制GemX IP66儀器箱
GemX便攜式直流X射線(xiàn)發(fā)生器： GemX-160(140kg)
-無(wú)線(xiàn)遙控: Yes
-電池供電（X射線(xiàn)連續30分鐘）或外接電源:Yes
-電壓范圍: 20-160kV
-電流： 0.1-2mA
-小焦點(diǎn): Be or AI
-絕緣: Oil（2h of X-ray/day）
-穿透力: 1% contrast resolution up to 25mm with
Dereo（at 160kV）
-符合各種地形360度旋轉手柄: Yes
-附件： Tripod，leadcap，laser point，...劑量計
