更靈活的刷式掃查器詳細動(dòng)態(tài)
更有信心的腐蝕檢測、更好的C掃描成像
ZETEC公司新研發(fā)的手動(dòng)掃查器,可加載多種超聲相控陣探頭,結合TOPAZ系列便攜式超聲相控陣系統可進(jìn)行C掃描成像
- 主要應用于金屬平板或管道的腐蝕檢測
- 母材的缺陷檢測
- 金屬工件厚度減薄測量
- 復合材料分層缺陷
主要技術(shù)性能如下:
- 手動(dòng)掃查器:小巧靈活,使用方便,單手即可完成檢測操作
- 掃查效率高,較短時(shí)間內即可完成缺陷檢測
- 兩平行編碼輪:實(shí)時(shí)記錄兩個(gè)輪子的位差,實(shí)現各個(gè)方向的準定位
- 兩種類(lèi)型的編碼輪可自行更換:鐵磁性輪可進(jìn)行碳鋼等鐵磁性材料的檢測,非鐵磁性輪可用于復合材料的檢測
- 兩個(gè)控制按鈕
開(kāi)始/停止數據采集:用于控制數據采集狀態(tài)
開(kāi)啟/關(guān)閉耦合泵:用于控制探頭耦合
- 實(shí)時(shí)成像效果好,從圖像可直觀(guān)看到缺陷分布情況
- 兼容多種相控陣探頭,可對不同厚度,不同類(lèi)型的材料進(jìn)行檢測
- 位置跟蹤:誤差小于1mm
- 適用于平板或管道掃查,最小可檢測管徑為6英寸
Paintbrush刷式掃查器詳細動(dòng)態(tài)在檢測時(shí)可以得到更準的位置編碼信息,更好的成像效果,有效解決了輪式探頭掃查器容易出現的掃查步進(jìn)位置的誤差和掃查重復覆蓋問(wèn)題。并且在檢測過(guò)程中可以實(shí)時(shí)查看探頭位置和數據,確保檢測過(guò)程能夠很好地覆蓋所有目標區域,從而正確評估整個(gè)檢測過(guò)程,得出準確的結論。