phoenix x|aminer 入門(mén)級X射線(xiàn)檢測系統是一款操作簡(jiǎn)便的入門(mén)級X射線(xiàn)檢測系統, 具有高性能的微焦點(diǎn)無(wú)損檢測設備, 是專(zhuān)為半導體封裝, 電子元器件和電子組裝等領(lǐng)域高分辨率檢測要求而設計. 現配備了新型CMOS平板探測器, 比圖像增強器具有更好的信噪比, 清晰度和實(shí)時(shí)成像能力, 并可選CT功能. 系統提供了功能強大和易用性好的phoenix x|act base二維軟件和 datos|x base CT軟件, 并允許手動(dòng)檢測和編程自動(dòng)檢測
phoenix x|aminer 入門(mén)級X射線(xiàn)檢測系統
主要特點(diǎn)和益處
無(wú)使用壽命限制160kV/20W高功率X射線(xiàn)管, 易于穿透高吸收性工件
可選高對比度CMOS平板探測器, 有更好的實(shí)時(shí)檢測能力
功能全面的CT軟件模塊, 操作簡(jiǎn)單快速
設計人性化和操作簡(jiǎn)便易用
可實(shí)時(shí)CAD數據匹配
自動(dòng)實(shí)時(shí)導航圖功能, 易于對樣品的上下表面和內部進(jìn) 行快速定位
激光防碰撞設計以保護工件
占地面積小
安裝好的印刷電路板 µBGA的二維X射線(xiàn)圖像
電力電子器件 將功率半導體元器件的表面焊接到陶瓷基板上。在穿過(guò)3毫米厚的銅制散熱器后,基板上可見(jiàn)空洞,半導體的焊點(diǎn)無(wú)空洞。甚至連細鋁焊線(xiàn)也可看見(jiàn)。
| 半導體與其他電子元件 在任何時(shí)間通過(guò)任何檢測角度通過(guò)實(shí)時(shí)CAD數據匹配得到實(shí)時(shí)影像。
CT 圖像 |