OmniScan MX EC渦流陣列檢測儀用于進(jìn)行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個(gè)傳感器線(xiàn)圈（使用外置多路轉換器可支持64個(gè)線(xiàn)圈），其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20 Hz到6 MHz，帶有一個(gè)可以在同一采集操作過(guò)程中使用多頻的選項。
OmniScan MX EC渦流陣列檢測儀
渦流陣列檢測
渦流陣列技術(shù)
渦流陣列技術(shù)（ECA）以電子方式驅動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應線(xiàn)圈，并解讀來(lái)自這些感應線(xiàn)圈的信號。通過(guò)使用多路技術(shù)采集數據， 可避免不同線(xiàn)圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應線(xiàn)圈（使用外部多路器可支持的感應線(xiàn)圈多達64個(gè)）。操作頻率范圍為20 Hz～6 MHz，并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢
同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢：
- 檢測時(shí)間大幅度降低。
- 單次掃查覆蓋更大檢測區域。
- 減小了機械和自動(dòng)掃查系統的復雜性。
- 提供檢測區域實(shí)時(shí)圖像，便于數據的判讀。
- *地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
- 改進(jìn)了檢測的可靠性和檢出率（POD）。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領(lǐng)域。根據缺陷的不同類(lèi)型或者被測工件的形狀，可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷，以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
傳感器之間的多路轉換技術(shù)
渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸，使渦流設置具有更大的靈活性。
探頭可以做成不同的形狀和尺寸，以更好地適應檢測部件的外形。
用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米（0.25英寸）的深度。
用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個(gè)可選編碼。
用于表面裂痕檢測的式探頭。
渦流陣列軟件
簡(jiǎn)單的數據采集和分析顯示
- C掃描視圖中的數據采集，可快速有效地檢測缺陷。
- 分析模式下的數據選擇，可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
- 波幅、相位和位置測量。
- 可調彩色調色板。
- 大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖，與常規單通道ECT探頭檢測相適應。
校準向導
- 分步進(jìn)行。
- 一組中的所有通道可被同時(shí)校準，每個(gè)通道各有自己的增益和旋轉。
- 波幅和相位可以根據不同的參考缺陷設定。
報警
- ３個(gè)報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
- 可以在阻抗圖中定義不同的報警區形狀（扇形、長(cháng)方形、環(huán)形等）。
自動(dòng)探頭識別和配置
- 探頭被連接后，C掃描參數和多路器的順序即可被自動(dòng)設置。
- 頻率范圍保護可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。
高級實(shí)時(shí)數據處理
- 實(shí)時(shí)數據插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示。
- 使用兩個(gè)頻率，可生成一個(gè)MIX信號，以去除干擾信號（如：提離、緊固件信號等）。
- 數據處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個(gè)應用實(shí)例：在搭接處邊緣檢測出裂紋，因為該處厚度出現急劇的變化。經(jīng)濾波的數據可以改進(jìn)檢測效果，特別是對小裂紋而言。
