LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀
| 利用磁感應法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。 |
| 儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統相結合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言，以滿(mǎn)足客戶(hù)的各種需求。 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品，電池壽命長(cháng)，可以連續工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測量數量，因此一些重要的參數可以被保存。 彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內，可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。 |
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀
| 特點(diǎn)概述 |
| 大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈校準選項 出廠(chǎng)時(shí)已校準，立即可用 在未知涂層上校準* 零校準* 在無(wú)涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準* 在有涂層的基體上校準*校準數據可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中，也可以隨時(shí)調出可選擇的顯示模式，以形式去完成測量任務(wù)*輸入和極限監視*在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲讀數檔案管理*可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport統計*可統計評估999個(gè)讀數小值、大值、測量個(gè)數、標準偏差和極限監視局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）在線(xiàn)統計，所有統計值概括 |
 3種配置級別以更好的完成測量人任務(wù) |
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| LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別 |
 | 基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征 |
| 高級型 - 附加統計評估 |
| 專(zhuān)業(yè)型 - 統計評估和數據存儲 |
| 如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時(shí)候把儀器升級為高級型和/或專(zhuān)業(yè)型。升級只需在現場(chǎng)輸入解鎖代碼，“統計”和/或“統計& 數據存儲”，便可完成；而不需要把儀器反廠(chǎng)或重新購買(mǎi)新機器。 |
| 多樣的探頭 |
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| 多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據需求，我們也可以訂做特殊探頭。 |
