ED400型 渦流測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
ED400型 渦流測厚儀以良好的質(zhì)量，及時(shí)、優(yōu)質(zhì)、低費用的售后服務(wù)得到用戶(hù)的廣泛贊譽(yù)和認可，天星測厚儀在鋁型材行業(yè)的*超過(guò)90%，成為該行業(yè)的產(chǎn)品。
特點(diǎn)
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量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達到 0～500 μm。 |
精度高 測量精度達到2%。
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分辨率高 分辨率達到0.1μm。
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校正簡(jiǎn)便 只校正“0”和“50 μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內保證設計精度。 |  |
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基體導電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合 金、紫銅、黃銅時(shí)，測量誤差不 大于1～2 μm。
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可靠性提高 采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優(yōu)化，儀器可靠性提高。
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采用的溫度補償技術(shù)，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現場(chǎng)長(cháng)期使用。 |
采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延長(cháng)。
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| 技術(shù)參數 | ||
| 測量范圍： | 0～500 μm | |
| 測量精度： | 0～50 μm：±1 μm； | |
| 50～500 μm：±2% | ||
| 分辨率： | 0～50 μm：0.1 μm； | |
| 50～500 μm：1 μm； | ||
| 0～500 μm：1 μm（可選） | ||
| 使用溫度： | 5～45℃ | |
| 外形尺寸： | 150 mm×80 mm×30 mm | |
| 重量： | 280 g | |
