在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下,可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測試。
內置比較器和BIN功能
2ms的快速測試時(shí)間
基本參數
測量模式 LCR,連續測試 測量參數 Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC電阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q 測量量程 100mΩ~100MΩ,10個(gè)量程(所有參數根據Z定義) 可顯示量程 Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [單位]* ~9.99999G [單位])(*為分辯率時(shí)的顯示位數)
只有 Z和Y顯示真有效值
θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%) 基本精度 Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° 測量頻率 40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz) 測量信號電平 正常模式
V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA~50mArms,10μArms 輸出阻抗 正常模式:100Ω 顯示 單色LCD 測量時(shí)間 2ms(1kHz,FAST,代表值) 功能 比較器,分類(lèi)測量(BIN功能),面板讀取/保存、存儲功能 接口 EXT I/O(處理器),USB通信(高速)
選件:RS-232C,GP-IB,LAN任選一 電源 100~240V AC,50/60Hz,50VA 尺寸及重量 260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg 附件 電源線(xiàn)×1,使用說(shuō)明書(shū)×1,CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1