GCSTD-A/B2020新款GCSTD系列高頻介電常數測試儀資料的詳細資料：
介電常數測試儀及介質(zhì)損耗測試儀
主要用途:
主要用于測量非金屬材料的介電常數（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）
應用對象:
該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究
電極規格
固體：材料測量直徑Φ38mm 可選；厚度可調 ≥ 15mm
液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）
粉體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）
試樣要求：固體樣品厚度要求：0.5-15MM
其它規格：
1、 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
2、相對濕度：<80％；
3、電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
4、消耗功率：約25W；
5、凈重：約7kg；
6、外型尺寸：（長(cháng)寬高）：380×280×132（mm）
測量方法?可采用直接測量法和替代法兩種。當采用直接測量法時(shí)，必須消除連接線(xiàn)和試樣實(shí)具等分布參數?的影響。?測量電路的分布參數可用圖4表示，圖中Ls、Rs為與試樣串聯(lián)的連接線(xiàn)、夾具等的等效電感及?電阻，Cp、RP為與試樣并聯(lián)的連接線(xiàn)、夾具等的等效電容及電阻。當Ls、Rs很小,且可忽略時(shí),?或當CP
9個(gè)電感規格：
電感No | 電感量 | 準確度% | Q值≥ | 分布電容約略值 | 諧振頻率范圍 MHz | 適合介電常數測試頻率 | |
GCSTD/A/AI | GCSTD-B | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
2020新款GCSTD系列高頻介電常數測試儀資料
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