GCSTD-D高低頻介電常數測試儀的詳細資料：
高低頻介電常數測試儀
GCSTD-D
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性能特點(diǎn)
■ 測試頻率20Hz～2MHz，10mHz步進(jìn)
■ 測試電平10mV～5V, 1mV步進(jìn)
■ 基本準確度0.1%
■ zui高達200次/s的測量速度
■ 320×240點(diǎn)陣大型圖形LCD顯示
■ 五位讀數分辨率
■ 可測量22種阻抗參數組合
■ 四種信號源輸出阻抗
■ 10點(diǎn)列表掃描測試功能
■ 內部自帶直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置兩臺TH1776)(選件)
■ 電壓或電流的自動(dòng)電平調整(ALC)功能
■ V、I測試信號電平監視功能
■ 圖形掃描分析功能
■ 20組內部?jì)x器設定可供儲存/讀取
■ 內建比較器,10檔分選及計數功能
■ 多種通訊接口方便用戶(hù)聯(lián)機使用
■ 2m/4m測試電纜擴展(選件)
■ 中英文可選操作界面
■ 可通過(guò)USB HOST 自動(dòng)升級儀器工作程序
簡(jiǎn)要介紹
廣泛的測量對象
無(wú)源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò )元件等的阻抗參數評估和性能分析。
半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
技術(shù)參數
測試參數 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
測試頻率 | 20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn) | |
測試信號電 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
輸出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本準確度 | 0.1% | |
L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH | |
C | 0.0001 pF ～ 9.9999F | |
R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ | |
顯示范圍 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
D | 0.0001 ～ 9.9999 | |
Q | 0.0001 ～ 99999 | |
θ | -179.99°～ 179.99° | |
測量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校準功能 | 開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負載校準 | |
等效方式 | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 | |
量程方式 | 自動(dòng), 保持 | |
顯示方式 | 直讀, Δ, Δ% | |
觸發(fā)方式 | 內部, 手動(dòng), 外部, 總線(xiàn) | |
內部直流偏 | 電壓模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn) |
置源 | 電流模式（內阻為50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn) |
比較器功能 | 10檔分選及計數功能 | |
顯示器 | 320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示 | |
存儲器 | 可保存20組儀器設定值 | |
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | ||
USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | ||
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB（選件） | ||
