Scan X Ellipse計算機X射線(xiàn)成像系統
?分辨率可達12.5 μm
- 基本空間分辨率可達40μm
- 重復使?用多達25000次
- BAM實(shí)驗室認證產(chǎn)品
- 灰度等級可達16 bit
- 顯著(zhù)減少曝光時(shí)間
- 操作簡(jiǎn)單、維護?方便
- 以太?數據交換
Scan X Ellipse計算機X射線(xiàn)成像系統
可讓?用戶(hù)定義掃描分辨率。 掃描分辨率從20 μm到100 μm可調,既適用于高精度焊縫檢測,也能滿(mǎn)?短曝光時(shí)間、檢測速度快的應?場(chǎng)合。?極調節的掃描分辨率確保能以?huà)呙鑵禎M(mǎn)?各種檢測應?領(lǐng)域的需求。
高分辨率成像板和ScanX Discover HR掃描儀相結合,基本空間分辨率可以達到40 μm。
無(wú)論檢測環(huán)境是在生產(chǎn)現場(chǎng)或是實(shí)驗室,ScanX Discover HR*的特性、超高的圖像質(zhì)量以及多功能性可滿(mǎn)足各種苛刻的需求。通過(guò)選擇不同成像板類(lèi)型,調整掃描參數,用戶(hù)可以自定義圖像質(zhì)量和曝光時(shí)間來(lái)完成各種檢測。
ScanX Discover HR提供靈活性的成像板掃描?方式,可掃描任意?長(cháng)度、不同形狀的成像板,還能同時(shí)掃描多張成像板,并能對多張成像板進(jìn)?一次性擦除。
ScanX View軟件與掃描儀兼容性強,內含的?工具有助于將檢測結果調節到顯?狀態(tài),且結果反復可調。