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    日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM1000日立公司于2016年4月15日在發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM1000

    詳細介紹

    日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000

    日立公司于2016年4月15日在發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產(chǎn)品結構緊湊,占地面積小,但分辨率不輸大型電鏡,同時(shí)操作極其簡(jiǎn)便,幾乎不用培訓就可操作。緊湊型設計,分辨率為4 nm。

      掃描電子顯微鏡可對材料的表面進(jìn)行高倍率觀(guān)察及高精度元素分析,在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設計研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著(zhù)廣泛的應用。 近年來(lái),掃描電鏡觀(guān)察表面精細結構及元素分析的需求日趨增加,而越來(lái)越多的用戶(hù)希望能在生產(chǎn)線(xiàn)、品保檢驗線(xiàn)和辦公區等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此,體積小、操作簡(jiǎn)便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機寬450mm、長(cháng)640mm,相比SU1510型號體積減小52%,重量減輕45%,功耗減小50%,且配備標準化的電源接口。主機與供電單元可分離,安裝非常靈活。

      FlexSEM 1000采用設計的電子光學(xué)系統和高可靠性、高靈敏度的探測器,分辨率高達4nm。FlexSEM 1000有多種自動(dòng)化功能,操作簡(jiǎn)便,即便是初次操作者也能快速拍出高質(zhì)量圖像。另外,新開(kāi)發(fā)的導航功能「SEM MAP」可使用各種光學(xué)圖片或電鏡照片進(jìn)行導航,一鍵就快速精準地切換至感興趣的高倍率視野。

    特點(diǎn):

    a. 通過(guò)高靈敏度二次電子探測器,背散射探測器,低真空探測器(UVD*2),實(shí)現低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀(guān)察

    b. 操作簡(jiǎn)捷,即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片

    c. 新開(kāi)發(fā)的導航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野

    d. 大窗口(30 mm2SDD能譜系統,便于快速分析元素成分*2

    *1 設置在桌面時(shí),分離主機和電源箱

    *2 選配

    項目

    內容

    分解能*3

    4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式)
    15.0 nm @ 1 kV (SE:高真空模式)
    5.0 nm @ 20 kV (BSE:低真空模式)

    加速電壓

    0.3 kV ~ 20 kV

    放大倍率

    6× ~ 300,000× (底片倍率)
    16× ~ 800,000× (顯示倍率)

    低真空模式

    真空范圍:6 ~ 100 Pa

    電子槍

    預對中鎢燈絲

    樣品臺

    3-軸自動(dòng)馬達臺
    X:0 ~ 40 mm, Y:0 ~ 50 mm, Z:5 ~ 15 mm
    R:360°, T:-15° ~ +90°

    樣品尺寸

    直徑80 mm

    樣品高度

    40 mm

    尺寸

    主機:450(W) x 640(D) x 670(H) mm
    供電單元:450(W) x 640(D) x 450(H) mm

    探測器選配

    · 高靈敏度低真空二次電子探測器(UVD)

    · 能量分散型X線(xiàn)探測器(EDS)

     

    掃描電子顯微鏡,高新掃描電子顯微鏡,高新掃描電子顯微鏡廠(chǎng)家

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