東莞市愛(ài)佩試驗設備有限公司
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半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱
設備介紹:
半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱是一款用于半導體材料做高溫、低溫、高低溫交變的可靠性試驗設備。經(jīng)過(guò)測試從而知道因溫度引起的物理效應和現象。半導體材料(semiconductor material)是一類(lèi)具有半導體性能(導電能力介于導體與絕緣體之間,電阻率約在1mΩ·cm~1GΩ·cm范圍內)、可用來(lái)制作半導體器件和集成電路的電子材料。
符合標準
半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱具有較寬的溫度調節控制范圍,可滿(mǎn)足國家標準本產(chǎn)品滿(mǎn)足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等國家標準《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程》A:低溫試驗方法,試驗B:高溫試驗方法,試驗Ca:恒定濕熱試驗方法,試驗Db:交變濕熱試驗方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96國家標準制造件,并可按軍標試驗要求GJB150.3-86,GJB150.4-86,及非標準制作各種半導體材料高低溫試驗設備。并等效滿(mǎn)足GJB150.9-86等相應的國標、軍標;也可按客戶(hù)的要求制造非標準產(chǎn)品。
半導體材料高低溫試驗箱|半導體材料低溫測試箱規格可選其一(單位:mm)
型號 AP-GD-100 內型尺寸 400×500×500 外型尺寸950×880×1470
型號 AP-GD-150 內型尺寸 500×500×600 外型尺寸985×932×1562
型號 AP-GD-250 內型尺寸 520×630×780 外型尺寸1060×997×1740
型號 AP-GD-500 內型尺寸 700×800×900 外型尺寸1182×1250×1880
型號 AP-GD-800 內型尺寸 800×1000×1000 外形尺寸 1360×1500×1950
型號AP-GD-1000 內型尺寸1000×1000×1000 外型尺寸1485×1520×2020
溫度范圍可選其一:0℃~150℃;-20℃~150℃;-40℃~150℃;-60℃~150℃;-70℃~150℃
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