iEDX-100T鍍層測厚儀 返回列表頁(yè)

技術(shù)指標

多鍍層分析，1～5層；

測試精度：0.001 μm；

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)；

測量時(shí)間：10~30秒；

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV；

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射線(xiàn)管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）；

6個(gè)準直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換；

高清CCD攝像頭（200萬(wàn)像素），準確監控位置；

多變量非線(xiàn)性去卷積曲線(xiàn)擬合；

高性能FP/MLSQ分析；

儀器尺寸：450×520×385mm。

圖譜界面

軟件支持無(wú)標樣分析；

寬大分析平臺和樣品腔；

集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面；

采用多種光譜擬合分析處理技術(shù)；

鍍層測厚分析可達到0.001μm。

分析報告結果

直接打印分析報告；
報告可轉換為PDF，EXCEL格式。