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    深圳市賽麥吉圖像技術(shù)有限公司


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    ISO 18844-數碼相機-圖像眩光測量

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    品       牌

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    所  在  地深圳市

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    ISO 18844 標準推薦的測試圖案，是兩行呈對角線(xiàn)排列的高密度光陷阱(或黑洞)。Imatest軟件較早版本的Veiling glare分析，僅測試了在圖像一個(gè)固定區域的點(diǎn)的炫光數據，但是在鏡頭的不同位置，眩光的數據有可能不同。

    詳細介紹

    介紹

    ISO 18844 標準推薦的測試圖案，是兩行呈對角線(xiàn)排列的高密度光陷阱(或黑洞)。Imatest軟件較早版本的Veiling glare分析，僅測試了在圖像一個(gè)固定區域的點(diǎn)的炫光數據，但是在鏡頭的不同位置，眩光的數據有可能不同。

    測試卡
    測試方法 ISO 18844 標準中type C型，測試卡在Imatest V5.0版軟件中得到了支持，可以通過(guò)Uniformity模塊，或Uniformity交互式模塊進(jìn)行分析。
    測試結果


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