卡爾特斯光學(xué)儀器（蘇州）有限公司
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更新時(shí)間：2022-09-16 10:35:33瀏覽次數：186次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)KRTSMX80M系列金相顯微鏡多檔分光比觀(guān)察頭設計全新系列觀(guān)察筒，采用寬光束成像系統設計，支持26.5mm超寬視野觀(guān)察，帶給您全新的大視野體驗
KRTS MX80M系列金相顯微鏡多檔分光比觀(guān)察頭設計全新系列觀(guān)察筒，采用寬光束成像系統設計，支持26.5mm超寬視野觀(guān)察，帶給您全新的大視野體驗。兩檔式正像鉸鏈三目觀(guān)察筒，保證樣品的移動(dòng)方向與您通過(guò)目鏡觀(guān)察到的方向一致，使操作更加得心應手。三檔式鉸鏈三目觀(guān)察筒，在成像光線(xiàn)99%用于雙目觀(guān)察或三目攝影的基礎上，增加一檔20%用于雙目觀(guān)察，80%用于顯微攝影，方便用戶(hù)同時(shí)對鏡下圖像與視頻圖像進(jìn)行對比觀(guān)察；
偏振系統偏振系統包括起偏器和檢偏器，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360度旋轉式檢偏器。360°旋轉式檢偏器可在不移動(dòng)標本的情況下，方便的觀(guān)察標本在不同偏振角度光線(xiàn)下呈現的狀態(tài)?？稍谄裣到y的基礎上加載微分干涉器，建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統。
諾曼爾斯基微分干涉襯比系統U-DICR微分干涉組件，可以將明場(chǎng)觀(guān)察下無(wú)法檢測的細微高低差，轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現出來(lái)，如LCD導電粒子，精密磁盤(pán)表面劃痕等。
中性密度濾色鏡連動(dòng)明暗場(chǎng)觀(guān)察設計照明器前端的撥桿可使明暗場(chǎng)觀(guān)察切換更加方便，并帶有中性密度濾色鏡（ND50）聯(lián)動(dòng)功能。由于暗場(chǎng)觀(guān)察時(shí)通常需要將光源開(kāi)得比明場(chǎng)觀(guān)察更亮，此功能設計可以避免用戶(hù)在由暗場(chǎng)切換至明場(chǎng)時(shí)，眼睛不會(huì )受到強光的刺激，提高使用的舒適性。
物鏡轉換器，多孔可選多孔物鏡轉換器可以對同一個(gè)標本的觀(guān)測點(diǎn)進(jìn)行連續的更加合理的低、中、高放大倍率觀(guān)察。全新的物鏡轉換器將光軸與轉動(dòng)軸之間的夾角降低到15°，提高了對中精度和齊焦精度，且外觀(guān)更加緊湊。
光學(xué)系統
同步設計了全套明暗場(chǎng)兩用物鏡，暗場(chǎng)照明亮度比傳統暗場(chǎng)物鏡提高 2 倍以上。采用全新設計的長(cháng)工作距物鏡、半復消色差技術(shù)，多層寬帶鍍膜技術(shù)，采用長(cháng)壽命LED光源，配合多種高度功能化的附件，50X 物鏡的有效工作距離 7.9mm，100X 物鏡的有效工作距離也達到了 2.1mm，更有20X 超長(cháng)工作距金相物鏡，大幅拓展了 MX 機型的應用領(lǐng)域。，能滿(mǎn)足各種檢驗需要，可用于明場(chǎng)、簡(jiǎn)易偏光、微分干涉觀(guān)察，專(zhuān)為L(cháng)CD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查。
移動(dòng)平臺
8英寸三層機械移動(dòng)平臺，低手位 X、Y 方向同軸調節 ；平臺面積 525×330mm，行程210×210mm，玻璃載物臺板 ；帶離合器手柄，可用于全行程范圍內快速移動(dòng) ；玻璃載物臺板（透、反射用）。
反射照明器
單顆大功率5W白色LED照明，帶斜照明機構。切換至斜照明時(shí)，可以使物體表面不同材質(zhì)部分呈現立體圖案，增加觀(guān)察的對比度與視覺(jué)效果。
豐富的觀(guān)察方式，滿(mǎn)足您的檢測需求
明場(chǎng)觀(guān)察：遠心柯拉反射照明系統，配以全新設計的無(wú)限遠長(cháng)工作距平場(chǎng)消色差金相物鏡，從低倍到高倍，都能得到清晰、平坦、明亮的高畫(huà)質(zhì)顯微圖像。
暗場(chǎng)觀(guān)察：將暗場(chǎng)照明拉桿拉到位置，即可使用暗場(chǎng)功能，可以觀(guān)察物體表面的各種劃痕、雜質(zhì)點(diǎn)及其他細微缺陷。內置衰減片，減少明暗場(chǎng)切換時(shí)光線(xiàn)劇烈變換對眼睛的刺激。
簡(jiǎn)易偏光觀(guān)察：將起偏鏡及檢偏鏡插板插入照明器的位置，即可進(jìn)行簡(jiǎn)易偏光觀(guān)察。檢偏鏡可分為固定式和 360°旋轉式兩種。
DIC 微分干涉觀(guān)察：在正交偏光的基礎上 , 插入 DIC 棱鏡，即可進(jìn)行 DIC 微分干涉觀(guān)察。使用 DIC 技術(shù) , 可以使樣品表面微小的高低差產(chǎn)生明顯的浮雕效果，提高圖像的對比度?？善ヅ鋷?DIC 功能的物鏡，使整個(gè)視場(chǎng)的干涉色一致，微分干涉效果非常出色 , 高倍物鏡 DIC 效果也較好。
U-DICR 微分干涉組件，可以將明場(chǎng)觀(guān)察下無(wú)法檢測的細微高低差，轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現出來(lái)，如LCD 導電粒子，精密磁盤(pán)表面劃痕等。
攝影 / 攝像附件
在三目觀(guān)察筒上，可以配接攝影攝像裝置，將雙目觀(guān)察到的圖像輸出至監視器或計算機，進(jìn)行圖像分析、處理、保存或傳送。使用專(zhuān)用的 C 接口與中繼鏡，可以和數碼相機聯(lián)接，快速進(jìn)行拍照，并獲取圖像。
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