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    WGJSTD-B/B1型介質(zhì)損耗及介電常數測試儀

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    產(chǎn)品型號WGJSTD-B/B1型

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    簡(jiǎn)單介紹高頻介質(zhì)損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、WGJSTD-B/B1型介質(zhì)損耗及介電常數測試儀、數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件（裝入WGJSTD-B或B1、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T1409-2006、美標ASTMD150以及國際電工委員會(huì )IEC60250的規定設計制作

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    簡(jiǎn)單介紹
    高頻介質(zhì)損耗測試系統由S916測試裝置（夾具）、WGJSTD-B/B1型介質(zhì)損耗及介電常數測試儀、數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件（裝入WGJSTD-B或B1、及LKI-1型電感器組成，它依據國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及國際電工委員會(huì )IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動(dòng)測量的*佳解決方案。

    WGJSTD-B/B1型介質(zhì)損耗及介電常數測試儀的詳細介紹

    詳細介紹

    1、《S916介質(zhì)損耗裝置》(測試夾具)是測試系統的核心檢測部件，它由一個(gè)LCD數字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過(guò)被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時(shí)的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。S916介質(zhì)損耗測試裝置是本公司*新研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，精密的加工設計、**的LCD數字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。

    2、基于串聯(lián)諧振原理的《WGJSTD-B/B1介質(zhì)損耗及介電常數儀》是測試系統的二次儀表，其數碼化主調電容器的**設計代表了行業(yè)的*高成就，隨之帶來(lái)了頻率、電容雙掃描(B1型)的全新搜索功能。該表具有*的人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來(lái)測定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)，把被測材料作為平板電容的介質(zhì)，與輔助電感等構成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取*高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實(shí)地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。

    WGJSTD-B/B1介質(zhì)損耗及介電常數儀的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡(jiǎn)便。操作者能在任意點(diǎn)頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無(wú)須關(guān)注量程和換算，摒棄了傳統Q表依賴(lài)面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無(wú)疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。

    3、數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件（裝入WGJSTD-B或B1)，實(shí)現了數據采集、數據分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無(wú)須繁瑣的人工處理，因而提高了數據的**度和測量的同一性，是人工讀值和人工計算的。

    4、一個(gè)高品質(zhì)因數（Q)的電感器是測量系統的輔助工具，關(guān)乎測試的靈敏度和精度，在系統中它與平板電容（S916）構成了基于串聯(lián)諧振的測試回路。本系統推薦的電感器為LKI-1電感組，共由9個(gè)高性能電感器組成，以適配不同的檢測頻率。


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