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當前位置:飛諾飛科技(上海)有限公司>> 全自動(dòng)金硅面壘型半導體探測器廠(chǎng)家
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2025-05-06 15:42:22瀏覽次數:141次
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我公司生產(chǎn)部分耗盡型金硅面壘半導體探測器,A 系列具有高能量分辨率、窗薄等特點(diǎn),適用于對能譜要求高的場(chǎng)合,如氡釷分析儀等,B 系列在 A 系列的窗前鍍上一個(gè)保護層,克服了易損壞、窗不能擦試等缺點(diǎn)適用于對能量分辨率要求不高,作為放射性強度測量的探測器。
型號 |
工作電壓 |
耗盡區厚度 μm | 對比ORTEC U-016-300-100 型 探測器 (Am-241 面源) 真空下測量能量分辯率 1.2? | 對比ORTEC U-016-300-100 型 探測器 (Am-241 面源) 真空下測量峰道址202 |
A-AS20 | 5~300VDC | 大于 1000 | 0.7~1.4? | 204~206 |
A-AS26 | 5~300VDC | 大于 1000 | 0.7~1.4? | 204~206 |
B-AS20 | 5~300VDC | 大于 1000 | 4.0~4.9? | 189-191 |
B-AS26 | 5~300VDC | 大于 1000 | 4.2~4.9? | 189-191 |
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