杭州華盼科技有限公司
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杭州華盼科技有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號MRS-3/MRS-3RT
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地杭州市
紡織服裝機械網(wǎng)采購部電話(huà)：0571-88918531
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更新時(shí)間：2023-08-23 22:32:44瀏覽次數：157次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)簡(jiǎn)要描述：武漢嘉儀通 MRS-3/MRS-3RT薄膜熱電參數測試系統專(zhuān)門(mén)針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量，測溫范圍達到81K~700K，采用動(dòng)態(tài)法測量Seebeck系數,避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統誤差,測量更準確。
薄膜熱電參數測試系統產(chǎn)品特點(diǎn)
專(zhuān)門(mén)針對薄膜材料的Seebeck系數和電阻率測量。
測試環(huán)境溫度范圍達到81K~700K。
采用動(dòng)態(tài)法測量Seebeck系數，避免了靜態(tài)測量在溫差測量上的系統誤差，測量更準確。
采用四線(xiàn)法測量電阻率。
熱電偶探針經(jīng)過(guò)嚴格的篩選配對保證測試結果的準確和穩定。
軟件操作簡(jiǎn)單，智能化可實(shí)現全自動(dòng)模式。
薄膜熱電參數測試系統測試實(shí)例
標準鎳帶測試結果
東華大學(xué)MoS2測試結果
MRS-3對Bi2Te3薄膜測試結果（電工研究所提供樣品）
MRS-3對Bi2Te3薄膜測試結果（電工研究所提供樣品）
薄膜熱電參數測試系統技術(shù)參數
| 型號 | MRS-3 | MRS-3RT | |
| 環(huán)境溫度 | 81K~700K | RT | |
| 溫控方式 | PID程序控制 | / | |
| 真空度 | ≤ 1Pa | / | |
| 測試氣氛 | 真空 | 空氣 | |
| 測量范圍 | 澤貝克系數：S ≥ 8µV/K； 電阻率：0.1µΩ•m ~ 1000KµΩ•m | ||
| 分辨率 | 澤貝克系數：0.05µV/K； 電阻率：0.05µΩ•m | ||
| 相對誤差 | 澤貝克系數 ≤ 7%，電阻率 ≤ 5% | ||
| 測量模式 | 自動(dòng) | ||
| 樣品尺寸 | 長(cháng) x 寬:(10~18)x(4~14)mm2,薄膜厚度≥50nm | ||
| 主機尺寸 | 采集箱：470x400x140，單位mm | 170x250x220，單位mm | |
| 重量 | 31.9kg | 3.5kg | |
薄膜熱電參數測試系統樣品要求
樣品滿(mǎn)足上述樣品尺寸，待測面需平整，薄膜均勻性好，保證與銅片接觸良好
薄膜材料厚度可至100nm，其均勻性有較高要求，薄膜厚度達到微米級別較好
薄膜材料的襯底需選擇電阻率較大或絕緣材料為宜，如玻璃、Si等材料
薄膜熱電參數測試系統技術(shù)原理
動(dòng)態(tài)法：測量Seebeck系數
在待測溫場(chǎng)下給樣品兩端加一個(gè)連續變化的微小溫差，通過(guò)記錄樣品兩端溫差和熱電勢的變化，然后將溫差和熱電勢擬合成一條直線(xiàn)，直線(xiàn)斜率即為該材料在該溫場(chǎng)下的Seebeck系數。
采用四線(xiàn)法測量電阻率。
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