第4代AccuTOF GC 系列產(chǎn)品性能進(jìn)一步改進(jìn), 升級為AccuTOF GCx!
將在很多的領(lǐng)域為您提供分析解決方案。
通過(guò)精確質(zhì)量測試推測元素的組成，AccuTOF GCx 能長(cháng)時(shí)間且比較穩定地進(jìn)行高靈敏度, 高分辨率, 高質(zhì)量準確度的測試。此外, AccuTOF GCX 作為GC-HR TOFMS具有高數量級的動(dòng)態(tài)范圍, 在同一譜圖內不管是測試基峰還是小峰, 質(zhì)量準確度都較高, 因此能較容易推測分子離子和碎片離子的元素組成, 基于寬動(dòng)態(tài)范圍還能容易地對不同濃度的混合樣品進(jìn)行GC/MS 測試。
高分辨率
全氟
高質(zhì)量準確度(不同濃度下的同一個(gè)離子峰)
八氟萘
長(cháng)時(shí)間的穩定性
八氟萘
高靈敏度
連續測試八次100fg 八氟萘(OFN) 后, 由EIC中的積分面積標準偏差計算出儀器的檢出限(IDL)為16fg。
CV ：相對標準偏差 IDL ：儀器檢出限
寬質(zhì)量范圍用Direct TOFMS也能測試低聚物
AccuTOF GCx 不但具有寬質(zhì)量范圍, 還有多種直接進(jìn)樣系統, 可以測試GC無(wú)法進(jìn)樣測試的大分子量樣品。
聚苯乙烯5200 的FD 質(zhì)譜圖
多種電離方法和進(jìn)樣技術(shù)FI 法和FD 法 適合于確認分子量的軟電離方式
FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內部能量較小的電離方法, 由于這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此適合于確認分子量。
FI(Field Ionization ：場(chǎng)電離)法
通過(guò)GC 或標準樣品進(jìn)樣口能將樣品導入離子源。
CI 源需要依據待測對象化合物選擇試劑氣體種類(lèi), 但FI 源不需要。
軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品，對容易碎片化的含氟化合物也檢測出了分子離子。
FD(Field Desorption ：場(chǎng)解吸)法
將樣品直接涂在發(fā)射體上。
很適合分析熱不穩定化合物。
很適合于可溶于非極性溶劑的樣品
能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品
能測試低～中極性的金屬絡(luò )合物。
能分析一般GC/MS 無(wú)法測試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等。
對難揮發(fā)性的離子液體也能迅速獲得分子量信息。
EI/FI/FD 復合離子源(選配件)同一個(gè)離子源可以使用EI 法(硬電離方式)和I/FD 法(軟電離方式)。
可簡(jiǎn)單, 迅速地切換EI 和 FI/FD電離方式。
直接進(jìn)樣方式(選配件)
根據用途備有兩種直接進(jìn)樣桿
電離方法可以選擇EI 和CI。
DEP (Direct Exposure Probe)
適合高沸點(diǎn)化合物 / 熱不穩定化合物, 將溶在溶劑中的樣品涂在燈絲前端。
DIP (Direct Insertion Probe)
直接進(jìn)樣桿適合于高沸點(diǎn)化合物及不溶于溶劑的樣品。
固體樣品可以直接放入專(zhuān)門(mén)用的玻璃樣品管
EI 和FI 結合的定性分析對EI的質(zhì)譜圖可用譜庫檢索，根據碎片離子的成份推斷可獲得結構信息。另一方面根據FI檢測出的分子離子能推斷出分子量和元素成份。通過(guò)綜合來(lái)自EI和FI的信息，就可以進(jìn)行定性分析而不必單純地依賴(lài)譜庫檢索，這種組合技術(shù)對于雜質(zhì)等未知成分的定性分析有效。
FI 法和FD 法 適合于確認分子量的軟電離方式
FI / FD 法與EI 法或CI 法相比, 是分子離子內部能量較小的電離方法, 由于這種軟電離方式不容易引起碎片化, 因此適合于確認分子量。
FI(Field Ionization ：場(chǎng)電離)法
通過(guò)GC 或標準樣品進(jìn)樣口能將樣品導入離子源。
CI 源需要依據待測對象化合物選擇試劑氣體種類(lèi), 但FI 源不需要。
軟電離技術(shù)也可以適用于難揮發(fā)性樣品，對容易碎片化的含氟化合物也檢測出了分子離子。
FD(Field Desorption ：場(chǎng)解吸)法
將樣品直接涂在發(fā)射體上。
適合分析熱不穩定化合物。
適合于可溶于非極性溶劑的樣品
能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品
能測試低～中極性的金屬絡(luò )合物。
能分析一般GC/MS 無(wú)法測試的樣品, 如聚合物, 高分子材料等。
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