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新款GCSTD系列 低頻介電常數測試儀滿(mǎn)足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(cháng)在內）下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質(zhì)）的交流損耗特性和介電常數的測試方法
滿(mǎn)足標準：
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(cháng)在內）下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法
GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數的測試方法
影響介電性能的因素
下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強度對介電性能的影響。
1 頻率
因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的 。r和 tans幾乎是恒定的，且被用作工程電介質(zhì)材料，然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數和
電容率。
電容率和介質(zhì)損耗因數的變化是由于介質(zhì)極化和電導而產(chǎn)生，*重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導致的界面極化所引起的。
溫度
損耗指數在一個(gè)頻率下可以出現一個(gè)*值，這個(gè)頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數和電容率的溫度系數可以是正的或負的，這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數*值位置。
3 濕度
極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加，其結果使電容率、介質(zhì)損耗因數和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時(shí)對環(huán)境濕度進(jìn)行控制是*的
注:濕度的顯著(zhù)影響常常發(fā)生在 1MHz以下及微波頻率范圍內
4 電場(chǎng)強度
存在界面極化時(shí)，自由離子的數目隨電場(chǎng)強度增大而增加，其損耗指數*值的大小和位置也隨此而變。
在較高的頻率下，只要電介質(zhì)中不出現局部放電，電容率和介質(zhì)損耗因數與電場(chǎng)強度無(wú)關(guān)
固體絕緣材料
5.1試樣的幾何形狀
測定材料的電容率和介質(zhì)損耗因數，*采用板狀試樣，也可采用管狀試樣。在測定電容率需要較高精度時(shí)，*的誤差來(lái)自試樣尺寸的誤差，尤其是試樣厚度的誤差，因此厚度應足夠大，以滿(mǎn)足測量所需要的精確度。厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點(diǎn)間厚度的變化。
對 1%的精確度來(lái)講，1.5mm的厚度就足夠了，但是對于更高精確度，*是采用較厚的試樣，例如6mm-12mm 測量厚度必須使測量點(diǎn)有規則地分布在整個(gè)試樣表面上，且厚度均勻度在士1%內。
如果材料的密度是已知的，則可用稱(chēng)量法測定厚度 選取試樣的面積時(shí)應能提供滿(mǎn)足精度要求的試樣電容。測量 10pF的電容時(shí)，使用有良好屏蔽保護的儀器。由于現有儀器的極限分辨能力約 1pF,因此試樣應薄些，直徑為 10cm或更大些
需要測低損耗因數值時(shí)，很重要的一點(diǎn)是導線(xiàn)串聯(lián)電阻引人的損耗要盡可能地小，即被測電容和該電阻的乘積要盡可能小 同樣，被測電容對總電容的比值要盡可能地大 *點(diǎn)表示導線(xiàn)電阻要盡可能低及試樣電容要小。第二點(diǎn)表示接有試樣橋臂的總電容要盡可能小，且試樣電容要大。因此試樣電容*取值為20pF，在測量回路中，與試樣并聯(lián)的電容不應大于約5pF,
試驗報告
試驗報告中應給出下列相關(guān)內容:
絕緣材料的型號名稱(chēng)及種類(lèi)、供貨形式、取樣方法、試樣的形狀及尺寸和取樣 日期(并注明試樣厚度
和試樣在與電極接觸的表面進(jìn)行處理的情況);
試樣條件處理的方法和處理時(shí)間;
電極裝置類(lèi)型，若有加在試樣上的電極應注明其類(lèi)型;
測量?jì)x器;
試驗時(shí)的溫度和相對濕度以及試樣的溫度;
施加的電壓;
施加的頻率;
相對電容率。r(平均值);
介質(zhì)損耗因數 tans(平均值);
試驗 日期 ;
相對電容率和介質(zhì)損耗因數值以及由它們計算得到的值如損耗指數和損耗角，必要時(shí)，應給出與溫度和頻率的關(guān)系。
新款GCSTD系列 低頻介電常數測試儀
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