北京冠測精電儀器設備有限公司
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聚酯薄膜介電常數測試儀源介電常數、介質(zhì)損耗測試儀元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò )元件等的阻抗參數評估和性能分析。半導體元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析其它元件:印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
聚酯薄膜介電常數測試儀聚酯薄膜介電常數測試儀聚酯薄膜介電常數測試儀
性能特點(diǎn)
簡(jiǎn)要介紹
廣泛的測量對象
無(wú)源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò )元件等的阻抗參數評估和性能分析。
半導體元件:變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件:印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料:半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶材料:液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
技術(shù)參數
測試參數 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
測試頻率 |
| 20 Hz~2MHz,10mHz步進(jìn) |
測試信號電 | f≤1MHz | 10mV~5V,±(10%+10mV) |
平 | f>1MHz | 10mV~1V,±(20%+10mV) |
輸出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
基本準確度 | 0.1% | |
| L | 0.0001 uH ~ 9.9999kH |
| C | 0.0001 pF ~ 9.9999F |
| R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ |
顯示范圍 | Y, B, G | 0.0001 nS ~ 99.999 S |
| D | 0.0001 ~ 9.9999 |
| Q | 0.0001 ~ 99999 |
| θ | -179.99°~ 179.99° |
測量速度 | 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
校準功能 | 開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零,負載校準 | |
等效方式 | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 | |
量程方式 | 自動(dòng), 保持 | |
顯示方式 | 直讀, Δ, Δ% | |
觸發(fā)方式 | 內部, 手動(dòng), 外部, 總線(xiàn) | |
內部直流偏 | 電壓模式 | -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn) |
置源 | 電流模式(內阻為50Ω) | -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn) |
比較器功能 | 10檔分選及計數功能 | |
顯示器 | 320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示 | |
存儲器 | 可保存20組儀器設定值 | |
| USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) | |
| USB HOST(FAT16 and FAT32 support) | |
接口 | LAN(LXI class C support) | |
RS232C | ||
HANDLER | ||
GPIB(選件) |
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