neaSNOM近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡技術(shù)特點(diǎn)和優(yōu)勢:
? neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn)品
? 保護的散射式近場(chǎng)光學(xué)測量技術(shù)
—的10 nm空間分辨率
? 的高階解調背景壓縮技術(shù)
—在獲得10nm空間分辨率的同時(shí)保持的信噪比
? 保護的干涉式近場(chǎng)信號探測單元
? 的贗外差干涉式探測技術(shù)
—能夠獲得對近場(chǎng)信號強度和相位的同步成像
? 保護的反射式光學(xué)系統
—用于寬波長(cháng)范圍的光源:可見(jiàn)、紅外以至太赫茲
? 高穩定性的AFM系統,
—同時(shí)優(yōu)化了納米尺度下光學(xué)測量
? 雙光束設計
—的光學(xué)接入角:水平方向180°,垂直方向60°
? 操作和樣品準備簡(jiǎn)單
—僅需要常規的AFM樣品準備過(guò)程