薄膜測量?jì)xST4080-OSP
儀器簡(jiǎn)介:
標準模式
工業(yè)規格
自動(dòng)調焦
防震臺
自動(dòng)的X-Y平臺
技術(shù)參數:
活動(dòng)面積:864 x 648? / 86.4 x 64.8?
波長(cháng)范圍:420 ~640 nm
厚度測量范圍:350?~3?
*小光斑尺寸:1.35?, 0.135?
透鏡旋轉臺:5X,50X
可測量層:1
樣品臺尺寸:200mmX200mm
Z軸可重復性:± 1?
Z軸自動(dòng)調節結構:
Z direction Head Movement
Travel range : 50mm
Max. velocity : 50mm/s
主要特點(diǎn):
非接觸式,非破壞式
可測量亞微米光斑
實(shí)樣監控
易操作界面
應用領(lǐng)域:
專(zhuān)用于測量PCB/PWB板的銅箔表面的OSP厚度。
HS13B-400/31 M10 JSV-1000 JSV-200H HE50 HS13B-200/31 HE20 HE10 HE5.0 HE3.0 HD13B-1500/30 HE2.0 HD13B-1000/31 HE1.0 HD13B-600/31 HE0.5 HE0.2 HE0.1 HF-100 HF-50 HF-20 HF-10 HF-05 HF-02 HD13B-400/31 HF-01 HD13B-200/31 HD12-1000/31 HD12.HD14-600/31 HD12.HD14-400/31 HD12.HD14-200/31 HS11-600/38 HS11-400/38 HS11-200/38 HD11-600/38 ZPS-500KN HD11-400/38 ZPS-200KN HD11-200/38 ZPS-100KN JR20-160 JR20-63 JR20-25A ZPS-50KN JR20-10-16A ZPS-30KN ZPS-20KN ZPS-10KN ZPS-5000N LR1-D803 LR1-D633