薄膜測厚儀ST2080-OSP
儀器簡(jiǎn)介:
標準模式
工業(yè)規格
手動(dòng)樣品臺
自動(dòng)調焦
技術(shù)參數:
活動(dòng)面積:86.4 x 64.8?
波長(cháng)范圍:420~640 nm
厚度測量范圍:350?~3?
*小光斑尺寸:1.48?,0.148?
透鏡旋轉臺:5X,50X
可測量層:1
樣品臺尺寸:200mmX200mm
Z軸可重復性:± 1?
Z軸自動(dòng)調節結構:
Z direction Head Movement
Travel range : 50mm
Max. velocity : 50mm/s
主要特點(diǎn):
非接觸式,非破壞式
3D測量圖像
可測量亞微米光斑
實(shí)樣監控
易操作界面
應用領(lǐng)域:
主要用來(lái)測量PCB/PWB板銅箔上的OSP薄膜
YCQR2-S-45KW YCQK2-S-45KW YCQR2-S-37KW 120DB3(-S) YCQR2-S-30KW YCQR2-S-22KW DB12N (-S) 60DB3(-S) YCQR2-S-5.5-18K DB6N(-S) 30DB3(-S) DB3N(S) 15DB3(-S) DB1.5N(-S) QSA(HH15)630-NT QSA(HH15)400A-NT QSA(HH15)250A-NT1 QSA(HH15)160A-NT QSA(HH15)125A-NT00 HR5-600/30.31-NT3 HR5-400/30.31-NT2 HR5-200/30.31-NT1 TWL1500 HR5-100/30.31-NT100 B1500 B400 HR3-600/34 HR3-600/32 HR3-400/34 B30 HR3-400/32 HR3-200/34 HR3-400/31 TCB50 TCB10 TCB01 BH-200 BH-100 BH-50 BH-10 HP-100P HP-50P HP-10P HP-100 HP-50 HP-10 M200 M100 M50 HR3-100/32.34 HS13B-600/31