ST2000光學(xué)薄膜測厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
使用K-MAC公司的光譜系統，可以很快、很容易地測量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系數。簡(jiǎn)單地將K-MAC系統插入您電腦的USB口，并開(kāi)始進(jìn)行測量。整個(gè)系統只需要幾分鐘來(lái)搭建，而測量過(guò)程也僅需要基礎的電腦知識。
產(chǎn)品特征：
1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì )影響實(shí)驗樣品。
2) 可獲得薄膜的厚度和 n,k 數據。
3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實(shí)驗樣品。
4) 可測量 3層以?xún)鹊亩鄬幽ぁ?br> 5) 根據用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產(chǎn)品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 適用于大學(xué),研究室等
| 尺寸 | 190 x 265 x 316 mm | | 重量 | 12Kg | | 類(lèi)型 | 手動(dòng)的 | | 測量樣本大小 | ≤ 4" | | 測量方法 | 非接觸式 | | 測量原理 | 反射計 | | 特征 | 測量迅速，操作簡(jiǎn)單
非接觸式，非破壞方式
優(yōu)良的重復性和再現性
用戶(hù)易操作界面
每個(gè)影像打印和數據保存功能
可測量多達3層
可背面反射 |
| 活動(dòng)范圍 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移動(dòng)距離) | | 測量范圍 | 200?~ 35?(根據膜的類(lèi)型) | | 光斑尺寸 | 20? 典型值 | | 測量速度 | 1~2 sec./site | | 應用領(lǐng)域 | 聚合體: PVA, PET, PP, PR ...
電解質(zhì):
半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... | | 選擇 | 參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST) | | 探頭類(lèi)型 | 三目探頭 | | nosepiece | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt | | 照明類(lèi)型 | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer | |
GM1350 ACS55001 GM1150A ACS550011 GM1150 ACS550011 ACS550011 ACS550011 ACS550010 ACS550010 ACS550010 ACS550010 GM900 ACS GM700 RK5000 GM550 GM300 GM100DU GM100D ACS5500106 GM60D ACS5500105 ACS5500104 GM40D ACS5500103 RK2511 ACS5100124 ACS510011 ACS5100 AT520s ACS51001 ACS51001 ACS5100108 AT770 AL05P ACS510010 AL05N ACS510010 AL05D AT1653 AL05R ACS5100103 RK2681 ACS510010 ACS510010 RK2681A ACS510010 RK2675A 0.5KW ACS5100101 ACS5100109 ACS510010
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