M1MISTRAL鍍層測厚儀
M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺式 µ-XRF 光譜儀，用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、**成本效益， 可以提供與材料元素成分有關(guān)的準確信息。
測定鍍層樣品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu
珠寶及合金分析：
M1 MISTRA是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品。不到1分鐘就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分含量或K（開(kāi)）表示。
該儀器具備高空間分辨率，光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形狀的樣品，例如*復雜的珠寶，而無(wú)需進(jìn)一步的制備，更重要的是，它的分析是無(wú)損的。支持的樣品尺寸*大可達 100x100x100 立方毫米。帶有交叉十字線(xiàn)的視頻顯微鏡，可以**定位到您要測量的位置。電動(dòng) Z 型取樣臺允許快速聚焦?？蛇x的 X-Y-Z 取樣臺甚至可以提供更大的舒適性。
M1 MISTRAL 配備了高亮度微焦點(diǎn) X 射線(xiàn)管，確保出色的激發(fā)測量光斑，產(chǎn)生高熒光效應。憑借功能強大、易于使用的 XSpect 軟件套件，該儀器可交付準確的量化結果，而不論是分析塊狀材料還是*復雜的多層結構。
RMM1160S RMM1100H RMM1100S RMM1100C AL35N CS267 AL35D RMM163H AL35R CS149 AL34P CS149 AL34N AL34D CS2674A DW151600 AL34R DW1510 CS2674B DW15C63 CS26741 AL33P CS26742 DW15C400 AL33N DW15C2 AL33D CS267 DW156 CS2673 AL33R DW15400 DW152 CS2672DX AL32P CS2672B/C AL32N CS2671A/B AL32D CS2670AX AL32R CS5800 AL31P CS50 AL31N CS55 ME3205 ME3200 AL31D ME250
3VL2 YD2817C YD2811B 3VL1 YD2811D YD2810H YD2810A YD2811C YD2616D YD2612AIYD2617A YD2617B YD2775E YD2776A
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