ZEISS O-INSPECT
每個(gè)領(lǐng)域中的專(zhuān)家
來(lái)自蔡司的O-INSPECT復合式測量機使您能理想地測量到每一個(gè)特征——通過(guò)光學(xué)或接觸式。一個(gè)重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的溫度范圍內提供符合ISO標準的可靠三維精度。一個(gè)附加的亮點(diǎn)：CALYPSO軟件不僅簡(jiǎn)便地交付測量結果，而且簡(jiǎn)化了發(fā)覺(jué)和辨識錯誤原因的過(guò)程。
ZEISS O-INSPECT
每個(gè)領(lǐng)域中的專(zhuān)家
來(lái)自蔡司的O-INSPECT復合式測量機使您能理想地測量到每一個(gè)特征——通過(guò)光學(xué)或接觸式。一個(gè)重要的特色： O-INSPECT在18-30℃的溫度范圍內提供符合ISO標準的可靠三維精度。一個(gè)附加的亮點(diǎn)：CALYPSO軟件不僅簡(jiǎn) 便地交付測量結果，而且簡(jiǎn)化了發(fā)覺(jué)和辨識錯誤原因的過(guò)程。
大視野，高清圖像——蔡司Discovery遠心變焦鏡頭
蔡司Discovery.V12來(lái)自蔡司顯微鏡事業(yè)部。與常規鏡頭比較，提供四倍更大視場(chǎng)，即便于鏡頭周邊區域亦 可確保圖像質(zhì)量。優(yōu)點(diǎn)：減少測量時(shí)間并具有穩定的精度。
更多測量點(diǎn)，更多信息——蔡司VAST XXT連續掃描測頭
O-INSPECT配備靈活、快速及高精度的VAST XXT接觸式連續掃描測頭。 通過(guò)這種掃描測頭即可捕捉相當大量 的測量點(diǎn)，取得有關(guān)形狀和位置的信息，是此類(lèi)測量機中的。別的多探頭測量機僅允許單點(diǎn)測量，而且 探針測力相當大；蔡司O-INSPECT卻能以毫牛級別探針測力進(jìn)行掃描測量，所以針對薄壁的工件也能實(shí)現真正的3D測量。
既快速又精準。讓您一目了然——蔡司CALYPSO軟件
O-INSPECT與CALYPSO測量軟件提供全新的可視化功能，使O-INSPECT全面開(kāi)啟了測量機可視化的新紀元。 通過(guò)它們您可以同時(shí)查看實(shí)際狀態(tài)、理論狀態(tài)及偏差，更快捷詮釋測量結果。
Discovery遠心變焦鏡頭
自適應照明系統
VAST XXT掃描探頭
庫位架
校準球
白光距離傳感器
轉臺
含玻璃托盤(pán)和網(wǎng)格托盤(pán)的上下料系統
校準托盤(pán)
始于三維
當其他測量機只能提供單點(diǎn)掃描和相對較大的探測力時(shí)，O-INSPECT 322標配掃描功能，配合的VAST XXT探頭確保使用 毫牛頓級別的探測力就能進(jìn)行精確測量。因此，得以實(shí)現真正意義的三維形狀及位置幾何要素測量。
遠心光學(xué)
由于遠心光學(xué)的復雜性，大多數光學(xué)測量機并不采用這種技術(shù)。不同于傳統光學(xué)技術(shù)，遠心光學(xué)并不取決于與物體的距離： 遠心鏡頭中不同材料厚度的被測對象均可在合適的圖像尺寸內獲得精確測量。
O-INSPECT 標配用于顯微鏡的12倍變焦遠心 Discovery 鏡頭，其可以利用多余的縮放范圍補償出現的偏差。出色的影像質(zhì)量 來(lái)源于鏡頭和自適應照明系統，其可以提供投射光和多束不同角度的反射光，且每束都有紅藍兩色。照明可根據被測件的形狀和 顏色作出的調整。確保的圖像質(zhì)量。
即使在惡劣的溫度條件下亦能保持精確
O-INSPECT 非常不易受到不同環(huán)境溫度的影響。當其他測量機需要配備嚴格控制環(huán)境參數的測量實(shí)驗室時(shí)，O-INSPECT 可以在 很大溫度范圍內獲取可靠的測量結果，因此適合于生產(chǎn)車(chē)間使用。
有多種托盤(pán)可供選用。這些托盤(pán)可被用于玻璃邊框內的標準托盤(pán)裝卸系統，確保的靈活性。
包含設備
Discovery 遠心縮放鏡頭
自適應照明系統
VAST XXT 掃描探頭
測針更換架
參考球
測量精度：
光學(xué)(1D)[μm] 1.6+L/200
接觸(1D)[μm] 1.6+L/200
選項
帶玻璃托盤(pán)和三明治托盤(pán)的裝卸系統
校準托盤(pán)
軟件
CALYPSO
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QQ:2568841715
