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    涂層測厚儀F1探頭

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    涂層測厚儀F1探頭

    詳細介紹


    涂層測厚儀F1探頭

    ☆測量范圍：0.0～10000mm

    ☆工作頻率：1000～15000m/s

    ☆檢測精度：0.2～20MHz

    ☆示值誤差：0.01







    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

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    F1探頭是磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是時(shí)代涂層測厚儀的標配探頭。

    涂層測厚儀F1探頭

    涂層測厚儀F1探頭

    • 工作原理：磁感應 | 分辨力：0.1um
    • 測量范圍：0-1250um
    • 示值誤差：
      1. 一點(diǎn)校準：±[3%H+1]um
      2. 兩點(diǎn)校準：±[(1～3)%H+1]um
    • 測量條件:
      1. 最小曲率半徑：凸1.5mm
      2. 基體最小面積的直徑：Ф7mm
      3. 最小臨界厚度：0.5mm
    • 探頭尺寸：Ф12X47mm


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