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    巨力光電(北京)科技有限公司


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    鋰離子電池電極應力測量系統

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    鋰離子電池電極應力測量系統

    詳細介紹

    詳細說(shuō)明:

    采用多光束光學(xué)傳感器系統(kSA MOS)原位實(shí)時(shí)應力測量分析,可研究鋰離子電池反應動(dòng)力學(xué)過(guò)程中或在正常使用過(guò)程中內部會(huì )產(chǎn)生應力,對其電化學(xué)性能的影響;即就是在充放電過(guò)程中鋰離子電池外殼表面的應力變化,得到了充放電循環(huán)中鋰離子電池電極表面的應力大小與電荷狀態(tài)的關(guān)系;進(jìn)而分析充放電過(guò)程中應力變化的異同,即產(chǎn)生不可逆應力,充放電曲線(xiàn)不重合。

    測試示意圖:

    充放電過(guò)程:

    動(dòng)力學(xué)循環(huán)過(guò)程:

    原位薄膜應力測量系統kSA MOS Film Stress Measurement System,又名原位薄膜應力計或原位薄膜應力儀!
    資料下載

    采用非接觸激光MOS技術(shù);不但可以精確的對樣品表面應力分布進(jìn)行統計分析,而且還可以進(jìn)行樣品表面二維應力、曲率成像分析;客戶(hù)可自行定義選擇使用任意一個(gè)或者一組激光點(diǎn)進(jìn)行測量;并且這種設計始終保證所有陣列的激光光點(diǎn)始終在同一頻率運動(dòng)或掃描,從而有效的避免了外界振動(dòng)對測試結果的影響;同時(shí)提高測試的分辨率;適合各種材質(zhì)和厚度薄膜應力分析;

    典型用戶(hù):Harvard University 2套,Stanford University,Johns Hopkins University,Brown University 2套,Karlsruhe Research Center,Max Planck Institute,西安交通大學(xué),中國計量等、半導體制和微電子造商(如IBM.,Seagate Research Center,Phillips Semiconductor,NEC,Nissan ARC,Nichia Glass Corporation)等;


    相關(guān)產(chǎn)品:
    *實(shí)時(shí)原位薄膜應力儀(kSA MOS Film Stress Tester):同樣采用多光束MOS技術(shù),可裝在各種真空沉積設備上(如:MBE, MOCVD, sputtering, PLD, PECVD, and annealing chambers ects),對于薄膜生長(cháng)過(guò)程中的應力變化進(jìn)行實(shí)時(shí)原位測量和二維成像分析;
    *薄膜熱應力測量系統(kSA MOS Thermal-Scan Film Stress Tester)
    *薄膜應力測量系統(kSA MOS Film Stress Measurement System)

    設備名稱(chēng):
    kSA MOS Film Stress Tester, kSA MOS Film Stress Measurement System,kSA MOS Film Stress Mapping System;

    主要特點(diǎn):
    1.MOS多光束傳感器技術(shù);
    2.單Port(樣品正上方)和雙Port(對稱(chēng)窗口)系統設計;
    3.適合MOCVD, MBE, Sputter,PLD、蒸収系統等各種真空薄膜沉積系統以及熱處理設備等;
    4.薄膜應力各向異性測試和分析功能;
    5.生長(cháng)速率和薄膜厚度測量;(選件)
    6.光學(xué)常數n&k 測量;(選件)
    7.多基片測量功能;(選件)
    8.基片旋轉追蹤測量功能;(選件)
    9.實(shí)時(shí)光學(xué)反饋控制技術(shù),系統安裝時(shí)可設置多個(gè)測試點(diǎn);
    10.專(zhuān)業(yè)設計免除了測量丌受真空系統振動(dòng)影響;

    測試功能:
    1.實(shí)時(shí)原位薄膜應力測量
    2.實(shí)時(shí)原位薄膜曲率測量
    3.實(shí)時(shí)原位應力*薄膜厚度曲線(xiàn)測量
    4.實(shí)時(shí)原位薄膜生長(cháng)全過(guò)程應力監控等

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