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    捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

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    捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡有著(zhù)精煉的外型，全新的視覺(jué)感受。為分析型電鏡全新設計的GUI，使操作更加直觀(guān)方便。JEOL長(cháng)年積累的豐富經(jīng)驗在設計上得到了充分的體現，與舊機型相比，電鏡的機械性和電氣穩定性都得到了很大的提高?，F在的電子顯微鏡需要支...

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    捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡有著(zhù)精煉的外型，全新的視覺(jué)感受。為分析型電鏡全新設計的GUI，使操作更加直觀(guān)方便。JEOL長(cháng)年積累的豐富經(jīng)驗在設計上得到了充分的體現，與舊機型相比，電鏡的機械性和電氣穩定性都得到了很大的提高?，F在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)--- 從明場(chǎng)/暗場(chǎng)的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術(shù)。 該設備采用新型四級聚光鏡照射光學(xué)系統-“Quad-Lens condenser system”，通過(guò)分別控制電子束強度和匯聚角，能滿(mǎn)足各種研究的需求。
    EM-F200可以實(shí)現大視野的STEM-EELS分析，該設備在常規的照明系統的電子束掃描功能之上，增加了新的掃描系統-“Advanced Scan System” 即成像系統的電子束掃描功能（選配）。
    捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡采用能以皮米級步長(cháng)移動(dòng)樣品臺的Pico stage drive（不用壓電驅動(dòng)），能在寬動(dòng)態(tài)范圍移動(dòng)視野-從樣品的整個(gè)柵網(wǎng)視野移動(dòng)到原子級圖像視野移動(dòng)都能進(jìn)行。插入和拔出樣品桿，對電鏡初學(xué)者來(lái)說(shuō)一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter，即使新手也能輕松掌握，將樣品桿安裝在的位置上，只用一個(gè)按鈕即能安全地插入或拔出。
    捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡能安裝高穩定性、高亮度和高能量分辨率的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)ㄟx配），該槍的利用可以進(jìn)行EELS化學(xué)結合狀態(tài)分析，高亮度的電子束縮短了分析時(shí)間，并且還降低了來(lái)自光源的色差，實(shí)現了高分辨率的觀(guān)察。
    捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡能同時(shí)安裝兩個(gè)大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器（SDD）（選配件）。 憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對樣品的損傷更小。
    捷歐路JEOL JEM-F200 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡是個(gè)標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統能將能源消耗降低到正常模式時(shí)的1/5，可以在裝置不運行時(shí)，以最小的能耗保持著(zhù)電鏡的條件。該設備具有排程功能，能在的時(shí)間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態(tài)。



    TEM點(diǎn)分辨率 0.19 nm 0.23 nm
    STEM-HAADF 像 0.14 nm @冷場(chǎng)槍 0.16 nm @冷場(chǎng)槍
    0.16 nm @熱場(chǎng)槍 0.19 nm @熱場(chǎng)槍
    加速電壓 200 , 80 kV 200 , 80 kV
    主要選配件 能譜儀（EDS）、電子能量損失譜儀（EELS）、CCD相機、TEM/STEM斷層掃描系統

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    .cn/場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-F200以節能環(huán)保、減排低碳為理念開(kāi)發(fā)的JEM-F200場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿(mǎn)足多種使用途徑，易用性強，外觀(guān)設計精煉，能為不同層次的用戶(hù)提供新奇的操作體驗。

     


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