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    捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡

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    捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡標配了照明系統球差校正器，是一款原子分辨分析型透射電鏡，擁有的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。標配照明系統球差校正器，且限度地提升了裝置的機械穩定性和電氣穩定性，實(shí)現了的STEM-HAADF...

    詳細介紹

    捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡標配了照明系統球差校正器，是一款原子分辨分析型透射電鏡，擁有的STEM-HAADF像分辨率（78pm）。標配照明系統球差校正器，且限度地提升了裝置的機械穩定性和電氣穩定性，實(shí)現了的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、82pm*2）。
    捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡標配照明系統球差校正器，且限度地提升了裝置的機械穩定性和電氣穩定性，實(shí)現了的STEM-HAADF像分辨率 （78pm*1、82pm*2）。 此外經(jīng)過(guò)球差校正的電子束與一般的場(chǎng)發(fā)射透射電鏡相比，電流密度可以高出十倍。使用束斑更小、電流密度更大的電子束，能在進(jìn)行原子水平的元素分析同時(shí),大幅度地縮短測試時(shí)間，極大地提高分析效率。
    *1 配備冷場(chǎng)發(fā)射電子槍  *2 配備肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
    捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡標配了掃描透射環(huán)形明場(chǎng)(STEM-ABF)成像模式，通過(guò)STEM-ABF像能直接觀(guān)察晶體樣品中輕元素的原子陣列，還可以同時(shí)獲取STEM-HAADF像，在樣品結構的分析中能夠發(fā)揮巨大威力
    捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡配備日本電子制造的100mm²的大面積硅漂移檢測器(Silicon Drift Detector:SDD)*3，可以進(jìn)行快速、高靈敏的EDS元素分析，與經(jīng)過(guò)球差校正的電子束流組合，能進(jìn)行原子級的元素面分布，在原子水平的分辨率下進(jìn)行成份分析。
    捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍(Cold-FEG)*4配備新開(kāi)發(fā)的真空系統，與傳統的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍不同，Flashing操作后可以馬上使用。由于光源小可以獲得更高分辨率的圖像。此外冷場(chǎng)發(fā)射電子槍的能量發(fā)散度小，不僅能進(jìn)行高分辨率的EELS分析，還能降低色差。
    捷歐路JEOL JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡使用成像系統的球差校正器*5，透射電子像(TEM)的分辨率可以高達110pm。
    分辨率
    掃描透射暗場(chǎng)像 82pm（加速電壓200kV、肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)?br> 78pm（加速電壓200kV、冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)?/td>
    透射像（點(diǎn)分辨率） 190pm（加速電壓200kV）
    110pm（加速電壓200kV、安裝TEM球差校正器）
    倍率
    掃描透射像 X200～X150,000,000
    透射像 X50～X2,000,000
    電子槍
    電子槍 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍 冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)ㄟx配件）
    加速電壓 200～80kV（標準200kV、80kV）
    樣品系統
    樣品臺 全對中側插式測角樣品臺
    樣品尺寸 3mmΦ
    傾斜角 X軸: ±25°　Y軸: ±25°（使用雙傾樣品桿）
    移動(dòng)范圍 X,Y: ±1mm　Z: ±0.1mm（馬達驅動(dòng)／壓電驅動(dòng)）
    球差校正器
    照明系統球差校正器 標配
    成像系統球差校正器 選配件
    選配件
    主要選配件 能譜儀（EDS） 電子能量損失譜儀（EELS）
    CCD數碼相機系統
    TEM/STEM斷層掃描系統
    雙棱鏡

     


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