上海盈諾精密儀器有限公司
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更新時(shí)間：2025-01-07 10:01:27瀏覽次數：40次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)概述：隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步和發(fā)展，在國民經(jīng)濟的許多部門(mén)，如能源、動(dòng)力、機械、醫藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(yè)中都出現了越來(lái)越多的細微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問(wèn)題有待解決，顆粒粒徑大小的測量是其中最基本也是最重要的一個(gè)方面
概述：
隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步和發(fā)展，在國民經(jīng)濟的許多部門(mén)，如能源、動(dòng)力、機械、醫藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(yè)中都出現了越來(lái)越多的細微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問(wèn)題有待解決，顆粒粒徑大小的測量是其中最基本也是最重要的一個(gè)方面。許多情況下，顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質(zhì)量，而且對工藝過(guò)程的優(yōu)化、能源消耗的降低、環(huán)境污染的減少等都有重大的關(guān)聯(lián)。 近年來(lái)，與、國防工業(yè)、軍事科學(xué)等密切相關(guān)的各種新型顆粒材料，特別是超細納米顆粒的問(wèn)世和利用，給顆粒粒徑的測量提出了新的和更高的要求，不但要求快速、自動(dòng)化數據處理、而且也要求提供可靠的更豐富的數據和更有用的信息，以滿(mǎn)足科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制方面應用的需要。TS-W系列激光粒度分析儀正是為了滿(mǎn)足用戶(hù)上述新要求而精心研制開(kāi)發(fā)的一代激光粒度分析儀。該儀器集激光技術(shù)、半導體技術(shù)、光電技術(shù)、微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的應用，綜合了光、機、電、計算機于一體，以光散射理論為基礎的顆粒粒徑測量技術(shù)突出的優(yōu)點(diǎn)逐步取代了一些傳統的常規測量方法，必將成為一代新穎的顆粒粒徑測量?jì)x器。并且在科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著(zhù)越來(lái)越大的作用。
TS-W系列激光粒度分析儀的高品質(zhì)和所測樣品的廣泛性使得它在實(shí)驗室的實(shí)驗研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應用。例如：材料、化工、制藥、精細陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。
技術(shù)特點(diǎn)：
1. 的半導體制冷恒溫控制綠色固體激光器做光源，波長(cháng)短、體積小、工作穩定、壽命長(cháng)；
2. 設計大直徑光靶，保證測量范圍大，0.1-1000微米全測量范圍內不需要更換鏡頭或移動(dòng)樣品池；
3. 集多年研究之成果，米氏理論的應用；
4. 反演算法，保證顆粒測量的準確；
5. USB接口，儀器與計算機一體化，內嵌10.8寸工業(yè)級別的電腦，可連接鍵盤(pán)、鼠標、U盤(pán)
6. 測量時(shí)循環(huán)樣品池或固定樣品池可選，兩者可根據需要換用；
7. 樣品池模塊化設計，更換模塊可實(shí)現不同的測試模式；循環(huán)樣品池內置超聲分散裝置，可有效分散團聚顆粒
8. 樣品測量可自動(dòng)化，除添加樣品外，只要連接好蒸餾水進(jìn)水管和排水管，進(jìn)水、測量、排水、清洗，啟動(dòng)超聲分散裝置等操作可自動(dòng)進(jìn)行，同時(shí)也提供手動(dòng)測量菜單；
9. 軟件個(gè)性化，提供測量向導等眾多功能，方便用戶(hù)操作；
10. 測量結果輸出數據豐富，保存在數據庫中，能用任意參數，如操作者姓名，樣品名，日期，時(shí)間等進(jìn)行調用分析，與其他軟件實(shí)現數據共享；
11. 儀器造型美觀(guān)，體積小重量輕；
12. 測量精度高，重復性好，測量時(shí)間短；
13. 軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶(hù)選擇，滿(mǎn)足用戶(hù)查找被測顆粒折射率要求；
14. 考慮到測試結果的保密要求，只有操作者才能進(jìn)入相應數據庫讀取數據和處理；
15. 本儀器符合但并不局限于以下標準：
ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法
技術(shù)參數：
1. 理論依據:Mie散射理論
2. 粒徑測量范圍:0.1-1000um
3. 光源:半導體制冷恒溫控制紅光固體激光光源，波長(cháng)635nm
4. 重復性誤差:<>（標準D50偏差）
5. 測量誤差:<>（標準D50偏差，用國家標準顆粒檢驗）
6. 檢測器:32或48或64或更高通道硅光電二極管
7. 樣品池:滴樣法樣品池10mL；循環(huán)樣品池（500mL內置超聲分散、攪拌裝置）
8. 測量分析時(shí)間：正常條件下小于1分鐘（從開(kāi)始測量到顯示分析結果）
9. 輸出內容：體積、數量微分分布和累積分布表和圖表；多種統計平均直徑；操作者信息；實(shí)驗樣品信息、分散介質(zhì)信息等。
10. 顯示方式：內嵌10.8寸工業(yè)級別的電腦，可連接鍵盤(pán)、鼠標、U盤(pán)
11. 電腦系統：WIN 10系統，30GB硬盤(pán)容量、2GB系統內存
12. 電源：220V，50 Hz
工作條件：
l 1.室內溫度：15℃-35℃
l 2.相對溫度：不大于85%（無(wú)冷凝）
l 3.建議用交流穩壓電源1KV，無(wú)強磁場(chǎng)干擾。
l 4.由于在微米級的范圍內的測量，儀器應放在堅固可靠、無(wú)振動(dòng)的工作臺上，并且在少塵條件下進(jìn)行測量。
l 5.儀器不應放在太陽(yáng)直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。
l 6.設備必須接地，保證安全和高精度。
7.室內應清潔、防塵、無(wú)腐蝕性氣體。您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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