高低溫主要用來(lái)檢測電子電器，光電光纖，化工涂料，五金建材等產(chǎn)品及復合材料是否耐高溫、低溫或恒定試驗。適用于檢測各種產(chǎn)品、各種材料或電器、儀器、儀表、電子元器件的在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的可靠性、適應性指標的設備。

高低溫試驗箱的計量方法：

1、高低溫試驗箱：溫濕度偏差、溫濕度波動(dòng)度、溫濕度均勻性。

2、均勻度：在穩定狀態(tài)下，工作空間某一時(shí)刻各測試點(diǎn)（溫濕度）之間的差異。
3、波動(dòng)度：環(huán)境試驗設備在穩定狀態(tài)下，工作空間中心點(diǎn)參數隨時(shí)間的變化量。偏差：設備在穩定狀態(tài)下，工作空間各測量點(diǎn)的實(shí)測高值和實(shí)測低值與標稱(chēng)值的上下偏差。

4、計量在空載條件下進(jìn)行。若帶有負載，應在校準報告中說(shuō)明負載情況。
計量溫濕度點(diǎn)一般應選擇設備使用范圍的上限、下限及中心點(diǎn)，也可根據用戶(hù)需要選擇實(shí)際常用的溫濕度點(diǎn)
5、計量點(diǎn)的位置：設備容積小于2m3時(shí)，溫度點(diǎn)9個(gè)，濕度點(diǎn)3個(gè)設備容積大于2m3，溫度點(diǎn)15個(gè)，溫度點(diǎn)4個(gè)。

標準：

GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗

GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗箱：濕熱試驗導則。

GB/T2424.5-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.6-2021環(huán)境試驗 第3部分

GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

GB/T2424.27-2013環(huán)境試驗

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A:低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GJB150.3-2009 設備環(huán)境試驗方法 高溫試驗

GJB150.4-2009 設備環(huán)境試驗方法 低溫試驗

GJB 150.9-2009 設備環(huán)境試驗方法  濕熱試驗