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更新時(shí)間：2024-02-26 16:19:13瀏覽次數：138次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)產(chǎn)品詳情美國CRAIC發(fā)布的20/30PV顯微光譜分析集成系統為紫外-可見(jiàn)-近紅外顯微光譜學(xué)設定了一個(gè)新的標準
美國CRAIC發(fā)布的20/30PV顯微光譜分析集成系統為紫外-可見(jiàn)-近紅外顯微光譜學(xué)設定了一個(gè)新的標準。使用技術(shù)的20/30 PV不僅可以讓用戶(hù)測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發(fā)或其他光源類(lèi)型下的光譜，還同時(shí)提供了數字成像功能。美國CRAIC 20/30 顯微分光光度計系統，結合了顯微學(xué)和光譜學(xué)的優(yōu)勢，用于微小樣品或樣品的微小區域的光譜分析；微區光譜測試的范圍從深紫外到近紅外，同時(shí)也提供全波段的成像。具備的光譜及圖像分析軟件、自動(dòng)化的參數設置、簡(jiǎn)單易用、能長(cháng)時(shí)間穩定工作等優(yōu)良特性。20/30 PV是微區科研以及實(shí)驗室樣品分析的工具。
CRAIC 20/30 PV集成了紫外－可見(jiàn)－近紅外光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統于一身，根據產(chǎn)品不同，可以做紫外可見(jiàn)近紅外（200-2500nm）的光譜分析，還可以集成顯微Raman系統，同時(shí)科研級光譜儀和高分辨彩色數字成像系統都使用了的顯微鏡光路系統及科研級光學(xué)接口。
高靈敏度的固態(tài)陣列檢測器件使用了熱電制冷的方式提高了器件的信噪比，增強穩定性,并保證設備能長(cháng)時(shí)間穩定地工作；高分辨率的數字成像系統在用于紫外、近紅外以及可見(jiàn)光波段的彩色成像。多種類(lèi)型的光源包提供了從深紫外到近紅外的光源，類(lèi)型包括透射光、反射光、熒光等，偏振光和拉曼激光也可以根據用戶(hù)需求提供。CRAIC精巧的軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數字成像系統，還同時(shí)提供了分析功能，甚至包括薄膜厚度測量及色度測量。CRAIC公司推出的操作系統，應用軟件使用簡(jiǎn)單，操作方便。
20/30PV系列為顯微觀(guān)測、材料科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)、生物科學(xué)及制藥、表面等離子共振，法醫痕跡鑒證，石墨烯及納米管等領(lǐng)域提供的顯微光譜分析方案，20/30 PV是顯微分光光度計的代表。
主要技術(shù)參數
微區光譜范圍：200-2500nm
最小取樣面積：≤1um2
熒光光譜范圍：300-1000nm
高分辨率成像：深紫外-近紅外
光譜分辨率：1-15nm(可選）
探測器類(lèi)型：CCD和InGaAs陣列
制冷;TE制冷
全譜掃描時(shí)間：≤14ms
可編程平臺帶光譜繪圖：可實(shí)現
全自動(dòng)控制：可實(shí)現
操作系統：Win7 Pro或Win 8
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