作為一款缺陷形貌分析的精密測量?jì)x器，其主要目的是對樣品進(jìn)行缺陷檢測。而儀器所提供的數據不能允許有錯誤的存在。Park NX20原子力顯微鏡，這款高精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著(zhù)數據的準確性，在半導體和硬盤(pán)行業(yè)中大受贊揚。
全面多樣的分析功能
Park NX20原子力顯微鏡可快速幫助客戶(hù)找到產(chǎn)品失效的原因，并幫助客戶(hù)制定出更多具有創(chuàng )意的解決方案。高精密度可為用戶(hù)帶來(lái)高分辨率數據，讓用戶(hù)能夠更加專(zhuān)注于工作。與此同時(shí)，非接觸掃描模式讓探針針尖更鋒利、更耐用，無(wú)需為頻繁更換探針而耗費大量的時(shí)間和金錢(qián)。
為FA和研究實(shí)驗室提供精確的形貌測量解決方案
· 對樣品和基片進(jìn)行表面粗糙度測量
· 缺陷檢查成像與分析
· 高分辨率電子掃描模式
· 三維結構測量的解耦XY掃描系統
· 低噪聲Z探測器可精確測量原子力顯微鏡表面形貌
Park NX20特點(diǎn)
低噪聲XYZ位置傳感器
自動(dòng)多點(diǎn)樣品掃描
掃描頭滑動(dòng)嵌入式設計
用于高級掃描模式易插拔擴展槽
高速24位數字電子控制器
高速Z軸掃描器，掃描范圍達15 µm
集成編碼器的XY自動(dòng)樣品載臺
操作方便的樣品臺
同軸高功率光學(xué)集成LED照明和CCD系統。
自動(dòng)Z軸移動(dòng)和聚焦系統
Park NX20技術(shù)參數
掃描器
Z掃描器
柔性引導高推動(dòng)力掃描器
掃描范圍: 15 µm (可選 30 µm)
高度信號噪聲等級: 30 pm
(RMS, at 0.5 kHz帶寬)
XY掃描器
閉環(huán)控制的柔性引導XY掃描器
掃描范圍: 100 µm × 100 µm
(可選 50 µm × 50 µm)
驅動(dòng)臺
Z位移臺行程范圍 : 25 mm (Motorized)
聚焦樣品臺行程范圍 : 15 mm (Motorized)
XY位移臺行程范圍 : 200 mm x 200 mm
樣品架
樣品尺寸 : 基本配置開(kāi)放空間 up to 200 mm x 200 mm,厚度 up to 20 mm
樣品重量 : < 500 g
光學(xué)
10倍 (0.23 N.A.)超長(cháng)工作距離鏡頭 (1µm分辨率)
樣品表面和懸臂的直觀(guān)同軸影像
視野 : 840 × 630 µm (帶10倍物鏡)
CCD : 100萬(wàn)像素, 500萬(wàn)像素 (可選)
軟件
SmartScan™
AFM系統控制和數據采集的專(zhuān)用軟件
智能模式的快速設置和簡(jiǎn)易成像
手動(dòng)模式的高級使用和更精密的掃描控制
XEI
AFM數據分析軟件
電子
集成功能
4通道數字鎖相放大器
數據Q控制
信號處理
ADC : 18 channels 4 high-speed ADC channels 24-bit ADCs for X, Y and Z scanner position sensor
DAC : 17 channels 2 high-speed DAC channels 20-bit DACs for X, Y and Z scanner positioning
Maximum data size : 4096 x 4096 pixels
連接外部信號
20個(gè)嵌入式輸入/輸出端口
5個(gè)TTL輸出 : EOF, EOL, EOP, 調制和交流偏壓
員1.png)
QQ:2568841715
