詳細信息:
XRF-2020 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時(shí)可對電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢(qián).只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)X(jué)YZ樣品臺,鐳射自動(dòng)對焦系統,十字線(xiàn)自動(dòng)調整.超大/開(kāi)放式的樣品臺,可測量較大的產(chǎn)品.是線(xiàn)路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類(lèi)金屬層、合金層厚度.是非破壞性測厚儀器的機型。
可測元素范圍:
鈦(Ti) – 鈾(U)
可測量厚度范圍:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射線(xiàn)管:油冷,超微細對焦
高壓:0-50KV(程控)
準直器:
固定種類(lèi)大?。嚎蛇x0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自動(dòng)種類(lèi)大?。嚎蛇x0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
電腦系統:IBM相容,17”顯示器
綜合性能::鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對方式,無(wú)需購買(mǎi)標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來(lái)料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進(jìn)行系統分析統計,方便有效的控制品質(zhì).
X光無(wú)損非接觸測量,只需10-30秒即可出結果 , 最小測量面積為直徑0.1mm圓面積, 測量范圍:0-80um,測量精度: ± 5%