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    球差電鏡測試

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    設備介紹JEM-ARM200F球差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63pm）,標配了掃描透射環(huán)形明場(chǎng)(STEM-ABF)成像模式

    詳細介紹

    設備介紹

    JEM-ARM200F球差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63pm）,標配了掃描透射環(huán)形明場(chǎng)(STEM-ABF)成像模式。對樣品在納米尺度的精細結構和化學(xué)成份進(jìn)行高水平表征檢測。用于納米科學(xué)、材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的科研項目。

    儀器型號

    JEM-ARM200F

    技術(shù)參數

    • 束流強度0.2nm時(shí)0.5nA 或更高
    • 點(diǎn)分辨率≤0.23nm
    • 聚光鏡球差系數可調，±5um 或更好
    • 放大倍數TEM: 50-2,000,000倍*；STEM magnification: ≥150,000,000*
    • 樣品室≤2 x 10-5 Pa
    • 加速電壓80—300kV

    案例展示

      應用范圍

      JEM-ARM200F差校正透射電鏡可用于成分，形貌，結構分析測試。獲得樣品表面形貌，粒徑等相關(guān)信息。用于獲得明、暗場(chǎng)像的襯度像進(jìn)行分析。直接觀(guān)察晶體樣品中輕元素的原子陣列，還可以同時(shí)獲取STEM-HAADF像，極大增強觀(guān)察、分析能力。原子像，選區電子衍射，會(huì )聚束電子衍射；對樣品在納米尺度的精細結構和化學(xué)成份進(jìn)行高水平表征檢測。

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