Surfix PFN內置探頭兩用統計型測厚儀 膜厚儀 膜厚計
Surfix PFN兩用統計型測厚儀 面議青島時(shí)代力風(fēng)檢測儀器有限公司
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青島時(shí)代力風(fēng)檢測儀器有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2025-03-12 08:47:55瀏覽次數：21次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)F1探頭F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT270涂層測厚儀的標配探頭
F1探頭
F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT270涂層測厚儀的標配探頭。
測頭型號 | F1 | |
工作原理 | 磁感應 | |
測量范圍（um） | 0-1250 | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(um) | ±[3%H+1] |
兩點(diǎn)校準(um) | ±[(1～3)%H+1] | |
測量條件 | 最小曲率半徑(mm) | 凸1.5 |
基體最小面積的直徑(mm) | ф7 | |
最小臨界厚度(mm) | 0.5 | |
探頭尺寸（mm) | ф12X47 | |
N1探頭
N1探頭是渦流法涂層測厚儀測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT270覆層測厚儀的標配探頭。
測頭型號 | N1 | |
工作原理 | 電渦流 | |
測量范圍（um） | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(um) | ±[3%H+1.5] |
兩點(diǎn)校準(um) | ±[(1～3)%H+1.5] | |
測量條件 | 最小曲率半徑(mm) | 3 |
基體最小面積的直徑(mm) | ф5 | |
最小臨界厚度(mm) | 0.3 | |
探頭尺寸（mm) | ф15X73 | |
F1/90探頭
TT270覆層測厚儀選配F1/90探頭，主要用于管材內壁的涂層厚度測量。它細長(cháng)的身形可以輕松的深入其它探頭無(wú)法到達的細管中。夾層和細縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。
測頭型號 | F1/90 | |
工作原理 | 磁感應 | |
測量范圍（um） | 0-1250 | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(um) | ±[3%H+1] |
兩點(diǎn)校準(um) | ±[(1～3)%H+1] | |
測量條件 | 最小曲率半徑(mm) | 平直 |
基體最小面積的直徑(mm) | ф7 | |
最小臨界厚度(mm) | 0.5 | |
探頭尺寸（mm) | 7.5X11X200 | |
F10探頭
TT270涂鍍層測厚儀選配F10探頭，測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應增配2000um、4000um、8000um的標準校準片，用于校準儀器。
測頭型號 | F10 | |
工作原理 | 磁感應 | |
測量范圍（um） | 0-10000 | |
低限分辨力(um) | 10 | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(um) | ±[3%H+10] |
兩點(diǎn)校準(um) | ±[(1～3)%H+10] | |
測量條件 | 最小曲率半徑(mm) | 10 |
基體最小面積的直徑(mm) | ф40 | |
最小臨界厚度(mm) | 2 | |
探頭尺寸（mm) | ф27X47 | |
F400探頭
TT270涂鍍層測厚儀選配F400探頭，主要用于較薄厚度的涂層測量，可獲得更精確的測量結果和更高的重復性，另外在管材基體直徑較小或者被測區域接觸面積較小時(shí)，F400探頭也是的選擇。
測頭型號 | F400 | |
工作原理 | 磁感應 | |
測量范圍（um） | 0-400 | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(um) | ±[3%H+1] |
兩點(diǎn)校準(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | |
測量條件 | 最小曲率半徑(mm) | 凸 1 |
基體最小面積的直徑(mm) | ф3 | |
最小臨界厚度(mm) | 0.2 | |
探頭尺寸（mm) | ф12X55 | |
CN02探頭
TT270漆膜測厚儀選配CN02探頭，主要用于測量線(xiàn)路板上的銅箔厚度，檢測范圍在10- 200um之間。
測頭型號 | CN02 | |
工作原理 | 電渦流 | |
測量范圍（um） | 10-200 | |
低限分辨力(um) | 1 | |
示值誤差 | 一點(diǎn)校準(um) | ±[3%H+1] |
兩點(diǎn)校準(um) | - | |
測量條件 | 最小曲率半徑(mm) | 平直 |
基體最小面積的直徑(mm) | ф7 | |
最小臨界厚度(mm) | 無(wú)限制 | |
探頭尺寸（mm) | ф16X67 | |
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