奧譜天成（廈門(mén)）光電有限公司/奧譜天成（廈門(mén)）科技有限公司
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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地廈門(mén)市
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更新時(shí)間：2024-01-26 14:31:53瀏覽次數：129次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)綜合概述SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動(dòng)薄膜厚度測繪儀
綜合概述
SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動(dòng)薄膜厚度測繪儀。 它利用波長(cháng)范圍最寬為200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有一定程度的透射，SM230就能根據反射回來(lái)的干涉光譜擬合計算出薄膜的厚度，以及其他光學(xué)常數如反射率、折射率和消光系數等，其厚度測繪范圍可以達到5nm~250um。
SM230自動(dòng)光學(xué)薄膜厚度測繪儀由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的旋轉平臺，結合奧譜天成的算法技術(shù)，為用戶(hù)提供的全新一代的自動(dòng)光學(xué)薄膜厚度測繪儀。
產(chǎn)品特征
l 非接觸式、非破壞性的測試系統；
l 超長(cháng)壽命光源，更高的發(fā)光效率；
l 高分辨率、高靈敏度光譜儀，測繪結果更準確可靠；
l 軟件界面直觀(guān)，操作方便省時(shí)；
l 測繪速度快，支持多點(diǎn)測繪點(diǎn)位地圖繪制；
l 支持繪制樣品2D/3D厚度分布圖；
l 高精度、長(cháng)壽命的3軸旋轉平臺；
l 歷史數據存儲，幫助用戶(hù)更好掌握結果；
l 桌面式分布設計，適用場(chǎng)景豐富；
l 維護成本低，保養方便；
應用領(lǐng)域
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測繪，這幾乎包含了所有的電介質(zhì)和半導體材料，包括：
氧化硅、氮化層、類(lèi)鉆薄膜、多晶硅、光刻膠、高分子、聚亞酰胺、非晶硅等。
l 半導體鍍膜：光刻膠、氧化物、淡化層、絕緣體上硅、晶片背面研磨;
l 液晶顯示：間隙厚度、聚酰亞胺、ITO透明導電膜;
l 光學(xué)鍍膜：硬涂層、抗反射層；
l 微電子系統：光刻膠、硅系膜狀物、印刷電路板；
l 生物醫學(xué)：醫療設備、Parylene
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