上海梓夢(mèng)科技有限公司
員1.png)
上海梓夢(mèng)科技有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠(chǎng)商性質(zhì)其他
所 在 地上海市
紡織服裝機械網(wǎng)采購部電話(huà)：0571-88918531
QQ:2568841715
聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2024-08-27 10:02:43瀏覽次數：115次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)暫無(wú)信息 |
動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀是當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí)，由于顆粒的布朗運動(dòng)引起散射光的頻率偏移，導致散射光信號隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動(dòng)速度有關(guān)，而顆粒的布朗運動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動(dòng)速度低，反之顆粒小布朗運動(dòng)速度高，因此動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強隨時(shí)間的漲落規律，使用光子探測器在固定的角度采集散射光，通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運算得到相關(guān)函數，再經(jīng)過(guò)數學(xué)反演獲得顆粒粒徑信息。
動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀原理
當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí)，由于顆粒的布朗運動(dòng)引起散射光的頻率偏移，導致散射光信號隨時(shí)間發(fā)生動(dòng)態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動(dòng)速度有關(guān)，而顆粒的布朗運動(dòng)速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動(dòng)速度低，反之顆粒小布朗運動(dòng)速度高，因此動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強隨時(shí)間的漲落規律，使用光子探測器在固定的角度采集散射光，通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運算得到相關(guān)函數，再經(jīng)過(guò)數學(xué)反演獲得顆粒粒徑信息。
動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀性能特點(diǎn)
1、高效的光路系統：采用固體激光器和一體化光纖技術(shù)集成的光路，充分滿(mǎn)足空間相干性的要求，極大地提高了散射光信號的信噪比。
2、高靈敏度光子探測器：采用計數型光電倍增管或雪崩光電二極管，對光子信號具有的靈敏度和信噪比； 采用邊沿觸發(fā)模式對光子進(jìn)行計數，瞬間捕捉光子脈沖的變化。
3、大動(dòng)態(tài)范圍高速光子相關(guān)器：采用高、低速通道搭配的結構設計光子相關(guān)器，有效解決了硬件資源與通道數量之間的矛盾，實(shí)現了大的動(dòng)態(tài)范圍，并保證了相關(guān)函數基線(xiàn)的穩定性。
4、高精度溫控系統：基于半導體制冷技術(shù)，采用自適應PID控制算法，使樣品池溫度控制精度達±0.1℃。
5、數據篩選功能：引入分位數檢測異常值的方法，鑒別受灰塵干擾的散射光數據，并剔除異常值，提高粒度測量結果的準確度。
6、優(yōu)化的反演算法：采用擬合累積反演算法計算平均粒徑及多分散系數，基于非負約束正則化算法反演顆粒粒度分布，測量結果的準確度和重復性都優(yōu)于1%。
納米粒度及zeta電位分析儀測量
納米粒度及zeta電位分析儀是表征分散體系穩定性的重要指標zeta電位愈高，顆粒間的相互排斥力越大，膠體體系愈穩定， 因此通過(guò)電泳光散射法測量zeta電位可以預測膠體的穩定性。
動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀原理
帶電顆粒在電場(chǎng)力作用下向電極反方向做電泳運動(dòng)，單位電場(chǎng)強度下的電泳速度定義為電泳遷移率。顆粒在電泳遷移時(shí)，會(huì )帶著(zhù)緊密吸附層和部分擴散層一起移動(dòng)，與液體之間形成滑動(dòng)面，滑動(dòng)面與液體內部的電位差即為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循 Henry方程，通過(guò)測量顆粒在電場(chǎng)中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位。
納米粒度及zeta電位分析儀性能特點(diǎn)
1.利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路，替代傳統電泳光散射的分立光路，使參考光和散射光信號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾，有效地提高了信噪比和抗干擾能力。
2.先對散射光信號進(jìn)行頻譜預分析，獲取需要細化分析的頻譜范圍，然后在窄帶范圍內進(jìn)行高分辨率的頻譜細化分析，從而獲得準確的散射光頻移。
3.基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度，獲得準確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值，再利用最小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數表達式，進(jìn)而有效提高了納米粒度及zeta電位分析儀的計算精度。
Henry函數的取值：
當雙電層厚度遠遠小于顆粒的半徑，即ka>>1，Henry函數近似為1.5。雙電層厚度遠遠大于顆粒半徑時(shí)，即ka<1，henry函數近似為1.0。使用最小二乘曲線(xiàn)擬合算法對wiersema計算的精確henry函數值進(jìn)行擬合，>
強大易用的控制軟件
ZS-920系列納米粒度及zeta電位分析儀的控制軟件具有納米顆粒粒度和zeta電位測量功能，一鍵式測量，自動(dòng)調整散射光強， 無(wú)需用戶(hù)干涉，自動(dòng)優(yōu)化光子相關(guān)器參數，以適應不同樣品，讓測量變得如此輕松?？刂栖浖哂袠藴驶僮?SOP)功能，讓不同實(shí)驗室、不同實(shí)驗員間的測量按照同一標準進(jìn)行，測量結果更具有可比性。測量完成自動(dòng)生成報表，以可視化的方式展示測量結果，讓測量結果一目了然。
動(dòng)態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀的技術(shù)指標
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
紡織服裝機械網(wǎng) 設計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
