青島森納瑞精密儀器有限公司
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更新時(shí)間：2023-04-19 11:33:16瀏覽次數：312次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)將 Axio Imager 2 的性能優(yōu)勢與偏光觀(guān)察的出色成像品質(zhì)相結合。 編碼或電動(dòng)組件提供精準且可重復的結果
介紹：
程序簡(jiǎn)便、操作可靠
您是否正在尋找一款能夠完成復雜任務(wù)、生成可靠檢測結果且易于操作的顯微鏡？那么用于偏光顯微觀(guān)察的智能型 Axio Imager 將是您的滿(mǎn)意之選。
不同種主機架可供選擇
編碼型、部分電動(dòng)型或全電動(dòng)型主機組合搭配，滿(mǎn)足您的個(gè)性化需求。
特點(diǎn)：
自動(dòng)組件識別技術(shù)值得信賴(lài)
自動(dòng)組件識別（Automatic Component Recognition ACR）技術(shù)，使您方便的使用顯微鏡設置。所有電動(dòng)主機架能夠自動(dòng)識別物鏡。此外，ACR 技術(shù)還能在全電動(dòng) Z 系列主機中識別反射光模塊。系統能自動(dòng)對組件的變換進(jìn)行登記。
無(wú)振動(dòng)設計確?？煽康拈L(cháng)時(shí)間成像
借助 Axio Imager 出色的穩定性得以實(shí)現可隨時(shí)間變化的測量和高放大倍率觀(guān)察。物鏡轉盤(pán)、z 軸升降臺和載物臺被設計為一個(gè)緊湊式無(wú)振動(dòng)單元，獨立于主機架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結構設計能夠創(chuàng )建理想的測量條件，以獲得超高質(zhì)量的觀(guān)測結果。
擴展功能令操作更舒適
簡(jiǎn)化復雜程序。通過(guò)主機架或外置工作站上的觸摸屏來(lái)控制全部電動(dòng)化組件。
保存個(gè)性化設置并實(shí)現一鍵還原。聚焦操作方便直觀(guān) – 符合人體工程學(xué)設計的觸控式按鈕。
或者通過(guò)任意擺放的控制面板（可與主機架分離）來(lái)操作偏光顯微系統。觀(guān)察方式和光路管理器能夠自動(dòng)選擇合適的設置，以生成可重現且可靠的觀(guān)測結果。
方法：
錐光觀(guān)察技術(shù)：使用偏光顯微鏡可以實(shí)現快速可靠的晶體結構分析
偏光顯微鏡能夠同時(shí)采集無(wú)畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設計的偏光鏡筒通過(guò)輔助中間像平面可以使物體、十字準線(xiàn)和可變光闌同時(shí)可見(jiàn)。通過(guò)調節型可變光闌能夠將錐光觀(guān)測范圍縮小至最小 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrａnd 光路方便開(kāi)關(guān)。這一特性讓您在不同技術(shù)之間進(jìn)行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設備時(shí)。
始終如一的測量性能
借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標尺的旋轉、球軸安裝式載物臺可以輕松實(shí)現測量，（例如：用于測量礦物的解理角）
光程差測定或應變測量
大量光譜補償器可選，涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。
固定光程差的補償器
全波片 λ
四分之一波片 λ / 4
全波片 λ，可旋轉角度 +/- 8°
具有可變光程差的補償器
光楔補償器 0-4 λ
測量補償器
- Berek 傾斜補償器 0-5 λ
- Berek 傾斜補償器 0-30 λ
Axio Imager 還可提供更多方法，例如：
熱顯微技術(shù)
使用蔡司 AxioVision 軟件進(jìn)行數字分析（例如：晶粒度分析或顆粒度分析）
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