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    布魯克 Bruker 三維光學(xué)輪廓儀 ContourSP

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    ContourSP 大面板計量系統融合了十余年封裝光學(xué)表征專(zhuān)業(yè)技術(shù)，使高密度互連 PCB（HDI-PCB）基板的測量效率比上一代白光干涉（WLI）儀器增加了一倍以上。該系統專(zhuān)用于在制造過(guò)程中測量 PCB 面板的每一層，融入了一大批測量功能，大幅提升半導體封裝行業(yè)的量產(chǎn)性能、便利性、可靠性和效率。具有計量功能的 ContourSP 采用簡(jiǎn)單易用的生產(chǎn)界面，通過(guò)用戶(hù)自定義輸入，實(shí)現快速、便捷的基準點(diǎn)對齊。

    詳細介紹

    ContourSP 大面板計量系統融合了十余年封裝光學(xué)表征專(zhuān)業(yè)技術(shù)，使高密度互連 PCB（HDI-PCB）基板的測量效率比上一代白光干涉（WLI）儀器增加了一倍以上。該系統專(zhuān)用于在制造過(guò)程中測量 PCB 面板的每一層，融入了一大批測量功能，大幅提升半導體封裝行業(yè)的量產(chǎn)性能、便利性、可靠性和效率。具有計量功能的 ContourSP 采用簡(jiǎn)單易用的生產(chǎn)界面，通過(guò)用戶(hù)自定義輸入，實(shí)現快速、便捷的基準點(diǎn)對齊。


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