北京縱橫金鼎儀器設備有限公司
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描述：介電常數介質(zhì)損耗測試儀廠(chǎng)家在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線(xiàn)圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿(mǎn)足要求），如：1MHz 時(shí)電感取100uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH
介電常數介質(zhì)損耗測試儀廠(chǎng)家
1. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線(xiàn)圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿(mǎn)足要求），如：1MHz 時(shí)電感取100uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。
2. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm)，樣品太薄或太厚就會(huì )使測試精度下降，樣品要盡可能平整。
3. 調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。
1. 再松開(kāi)兩片極片，把被測樣品夾入平板電容上下極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，直到平板電容極片夾住樣品止（注意調節時(shí)要用S916測試夾具的測微桿，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2。改變主機上的主調電容容量（旋轉主調電容旋鈕改變主調電容電容量），使主機處于諧振點(diǎn)（Q值Z大值）上。
2. 取出S916測試夾具中的樣品，這時(shí)主機又失去諧振（Q值變?。?，此時(shí)調節S916測試夾具的測微桿，使主機再回到諧振點(diǎn)（Q值Z大值）上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4.
3. 計算被測樣品的介電常數:
二 介電常數介質(zhì)損耗測試儀廠(chǎng)家介質(zhì)損耗測試方法與步驟
1. 主機C0值的計算方式:
a) 選一個(gè)適當的諧振電感接到“Lx”的兩端；
b) 將調諧電容器調到200P左右，令這個(gè)電容是C4，
c) 按下儀器面板的頻率搜索鍵，使測試回路諧振，諧振時(shí)Q的讀數為Q4(注：若頻率搜索未能找到Z高Q值諧振點(diǎn)，可以通過(guò)頻率旋鈕來(lái)微調頻率來(lái)達到Q值Z大值的諧振點(diǎn)；
d) 將測試夾具接在“Cx”兩端，放入材料，上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值，然后拿出材料，調回到夾具的顯示數值，調節主調電容，使測試電路重新諧振，此時(shí)可變電容器值為C3，Q值讀數為Q3。(注：C3數值肯定比C4要小)
機構電容的有效電容為：Cz= C4－C3
分布電容為機構電容CZ和電感分布電容CL（參考電感的技術(shù)說(shuō)明）的和
介質(zhì)損耗系數/介質(zhì)損耗正切值為
2. 把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線(xiàn)圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿(mǎn)足要求），如：1MHz 時(shí)電感取100uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。
4. 被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會(huì )使測試精度下降，樣品要盡可能平直。
5. 調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。再松開(kāi)兩片極片，把被測樣品夾入兩片極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調節時(shí)要用S916測試夾具的，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2，改變主機上的主調電容容量，使主機處于諧振點(diǎn)（Q值Z大值，為了得到準確的Q值請耐心來(lái)回調節主調電容，當Q值為Z大值時(shí)候可以稍等1分鐘，等Q值穩定），然后按一次 主機上的小數點(diǎn)（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動(dòng)輸入，記住厚度D2的值，此時(shí)顯示數值為C2和Q2。
6. 取出S916測試夾具中的樣品，（保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變）這時(shí)主機又失去諧振（Q值變?。?，再改變主機上的主調電容容量，使主機重新處于諧振點(diǎn)（Q值Z大值，為了得到準確的Q值請耐心來(lái)回調節主調電容，當Q值為大值時(shí)候可以稍等1分鐘，等Q值穩定）上。
7. 注意：多次測試同一個(gè)材料時(shí)，要求保持每次材料厚度的讀數大致相同。
8. 第二次按下 主機上的小數點(diǎn)（tgδ）鍵，顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1，同時(shí)顯示介質(zhì)損耗系數tn =．x x x x x ，即完成測試。
9. 出錯提示，當出現tn = NO 顯示時(shí)，說(shuō)明測試時(shí)出現了差錯，發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。
附錄 一
顯示數據介紹：
C1 | 材料拿出后，諧振時(shí)測得的電容值 |
C2 | 材料在夾具中，諧振時(shí)測得的電容值 |
Q1 | 材料拿出后，諧振時(shí)測得的Q值 |
Q2 | 材料在夾具中，諧振時(shí)測得的Q值 |
CZ | 主機+測試夾具測得的結構電容值 |
CL | 標準電感的分布電容值 |
C0 | 結構電容值+電感的分布電容值 |
D2 | 材料的厚度 |
tn | 介質(zhì)損耗系數/介質(zhì)損耗正切值 |
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