青島立高檢測有限公司
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廠(chǎng)商性質(zhì)其他
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更新時(shí)間：2024-03-09 17:25:14瀏覽次數：191次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM廠(chǎng)家：日本電子株式會(huì )社型號：JEM-2100F技術(shù)參數：1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm；點(diǎn)分辨率：0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；2.樣品傾角：+/-40o；放大倍數：60-1000000；電子槍?zhuān)篠chottly場(chǎng)發(fā)射電子槍
場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM
廠(chǎng)家：日本電子株式會(huì )社
型號：JEM-2100F
技術(shù)參數：
1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm； 點(diǎn)分辨率： 0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；
2.樣品傾角：+/-40o；放大倍數：60-1000000；電子槍?zhuān)?/span>Schottly 場(chǎng)發(fā)射電子槍。
3.高性能的TEM成像、STEM成像和納米分析；
4.配備英國Oxford X-MAX能譜儀 。
應用范圍：
1.應用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫療、制藥、半導體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀(guān)察與分析；
2.各種材料微區化學(xué)成分的定性和半定量檢測；
3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測定；
4.復合材料界面特性的研究。
表征項目：
可進(jìn)行TEM形貌 ，HRTEM高分辨 ，選區電子衍射SAED, STEM-HADDF暗場(chǎng)像 ， EDX元素定量， Mapping元素分布 ， 點(diǎn)掃描、 線(xiàn)掃描 。
樣品要求：
粉末、液體樣都行；樣品量：粉末樣≥1mg ，液體樣≥1ml 。
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