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    μPhase®高精度干涉儀

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    品       牌

    廠(chǎng)商性質(zhì)其他

    所  在  地北京市

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    μPhase®系列干涉儀用于測量高精度要求的光學(xué)零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進(jìn)行較精確的評價(jià)

    詳細介紹

    μPhase®系列干涉儀用于測量高精度要求的光學(xué)零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進(jìn)行較精確的評價(jià)。μPhase®系列干涉儀得益于該設備緊湊與模塊化的設計理念，使它們得到靈活、高效的使用。μPhase®系列干涉儀的各個(gè)組成部件相對獨立，相互兼容，可靈活組合成有針對性應用的強大干涉計量系統。


     μPhase®干涉儀主機
    μPhase® Vertical
    μPhase
    測量各種零件
    產(chǎn)品特點(diǎn)：

    • 模塊化設計，結構緊湊；

    • 測量適用性強，保證可以在各種工作與生產(chǎn)環(huán)境中進(jìn)行檢測；

    • 可測量反射率0.3%-99%的光學(xué)表面，覆蓋范圍廣；

    • 數字化測量，避免人為損壞；

    • 的結構，全面的軟件，為生產(chǎn)及實(shí)驗室提供支持；

    • 無(wú)二的的產(chǎn)品特點(diǎn)：泰曼格林型/菲索型組合或用于校準樣品的第二個(gè)相機，為μPhase®系列干涉儀的使用提供了便利。

     

    μPhase® Vertical

    • 適用于廠(chǎng)房、車(chē)間、實(shí)驗室的標準干涉儀檢測系統

    • 立式檢測，結構緊湊，占地面積小

    • 標配一個(gè)沿Z軸方向電動(dòng)平移的平臺，可選配第二個(gè)平臺

    • 傾斜及X/Y平移精調

    • 可完成各種類(lèi)型的反射與透射檢測

    • 可采用透射法檢測雙膠合透鏡

    • 凹面與凸面球面鏡的檢測范圍：標準曲率半徑范圍：1mm-225mm，

    直徑55mm（采用50mm物鏡μLens PLANO 50）

    • 集成半徑測量單元

    • 可選CGH，用于測量非球面、柱面、輪胎面等

    • Z軸方向設置導軌電機，電動(dòng)升降

    • 曲率半徑實(shí)現一鍵式自動(dòng)測量

     

    μPhase® SPHERO UP， μPhase® PLANO UP，μPhase® Plano Down

    • 用于測量不同的平面和球面光學(xué)零件

    • 操作直觀(guān)而簡(jiǎn)單，適合非專(zhuān)業(yè)人士操作

    • 測量范圍：

    μPhase® Plano Down：平面φ≤2 mm 至 150 mm；
    μPhase® PLANO UP：平面φ≤2 mm 至 100 mm ；
    μPhase® SPHERO UP：球面，曲率半徑（凸面）2mm—  225mm，直徑 55mm ；
    球面，曲率半徑（凹面）-3mm—-570mm

    • 結構緊湊，占用空間下，可靈活的與產(chǎn)線(xiàn)結合   

     

    μPhase® UNIVERSAL 100μPhase® Plano 300

    • 用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統

    • 理想的大型平面的檢測系統，光學(xué)材料的均勻性檢測系統

    • 球面測量范圍：凹面曲率半徑-3000mm（提供相應導軌）

    • 理想的成盤(pán)拋光分塊鏡面形檢測系統

    • 平面測量范圍：98mm

    • 測量范圍60-300mm

    • 半徑測量系統集成導軌和光柵尺

    • 立式檢測系統，其它檢測方式根據要求可訂制

    • 適合長(cháng)焦光學(xué)零件和系統的檢測

    • 具有重型光學(xué)元件的支承、調整等操作功能。

    • 與市場(chǎng)上通用的4英寸標準球面物鏡相兼容


    • 可選旋轉對稱(chēng)非球面的檢測配件，檢測范圍10mm-80mm，CGH檢測輪胎面、柱面等




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