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更新時(shí)間：2023-12-11 15:12:05瀏覽次數：168次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)產(chǎn)品介紹VIT測試系統外形圖VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統是一個(gè)可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統，支持成像探測器所有重要參數的測試
產(chǎn)品介紹
VIT測試系統外形圖
VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統是一個(gè)可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs 成像探測器的測試系統，支持成像探測器所有重要參數的測試。
VIT測試系統是一個(gè)模塊化的測試系統，由以下五個(gè)部分組成：雙圖像投影通道，一組圖像采集卡，及，測試軟件和可選的測試原始芯片用的CON控制模塊。雙圖像投影通道是VIT測試系統的核心模塊，包括輻射通道和成像通道。
VIT測試系統提供了一組傳統參數的測量，這些參數通常用于表征紅外焦平面/熱成像核心的性能。另外也提供成像傳感器和相機的EMVA1288標準推薦的性能參數測試。
一般測試功能：
1. 輻射參數：相對光譜靈敏度、比探測率D*、量子效率QE、靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、線(xiàn)性度、NEI、FPN固定圖形噪聲、非均勻性、信噪比、壞像素數、3D噪聲?？梢詼y量16個(gè)不同波長(cháng)下的情況。
2. 成像參數：調制傳遞函數MTF、分辨率、最小可分辨對比度、串擾、高光溢出Blooming、視場(chǎng)。
EMVA1288測試功能：量子效率，增益，時(shí)間暗噪聲，DSNU1288，信噪比，PRNU1288，LE非線(xiàn)性，靈敏度閾值，飽和容量，動(dòng)態(tài)范圍，暗電流，相對光譜靈敏度。
產(chǎn)品參數
表1 用于定義VIT測試系統版本的兩位數編號
編號 | A列：已封裝傳感器 | B列：電子控制模塊支持的被測件 |
1 | VIS-NIR傳感器 | 相機核心 |
2 | InGaAs傳感器 | 相機核心和最多兩個(gè)原始傳感器 |
3 | VIS-NIR傳感器和InGaAs 傳感器 | 相機芯和多個(gè)原始傳感器 |
表2 產(chǎn)品詳細參數
電源 | 230/110 VAC 50/60 Hz 功率＜800W |
工作溫度 | 10°C to 40°C |
尺寸 | 約163x63x73 cm |
重量 | 約91kg（不包括PC） |
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