北京安洲科技有限公司
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更新時(shí)間：2024-01-24 14:48:27瀏覽次數：104次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)SOC-200是一款高精度科研級BRDF測量系統，可以從可見(jiàn)到中紅外波譜范圍內全自動(dòng)測量樣品的BRDF，實(shí)現光學(xué)表面、油漆、涂層、液體和顆粒等雙向反射分布函數（BRDF）制圖
SOC-200 是一款高精度科研級BRDF測量系統，可以從可見(jiàn)到中紅外波譜范圍內全自動(dòng)測量樣品的BRDF，實(shí)現光學(xué)表面、油漆、涂層、液體和顆粒等雙向反射分布函數（BRDF）制圖。BRDF 數據可以提供研究材料光學(xué)性能所必須的方向反射信息，如表面能量散射的方向和強度。
主要特點(diǎn)：
n 光譜范圍：0.35~14μm（基于檢測器選項）
n 測量本底噪聲：<10-3sr-1
n 可水平裝置粉末和液體樣品進(jìn)行測量
n 重復性：＜本底噪聲的5％
n 全自動(dòng)測量四個(gè)角坐標 （Θ and Φ、入射及反射角）
n 集成電控單元，用于快速處理、顯示和存儲數據
n 自動(dòng)帶通濾光輪，一次性測量十二種多光譜通道。
n 支持斯特林循環(huán)冷卻的MCT和InSb檢測器，可以無(wú)人值守地全自動(dòng)數據采集，自動(dòng)切換標樣樣品測量
測量指標：
n 全半球雙向反射分布函數（BRDF）
非偏振BRDF
線(xiàn)性偏振BRDF
n 雙向透射分布函數（BTDF）
應用領(lǐng)域：
n 航空工業(yè)
n 國防
n 航天
n 行星探測
n 涂層領(lǐng)域
n 光學(xué)材料質(zhì)量控制
技術(shù)參數：
| 項 目 | 參 數 |
| 測量項目 | BRDF、BTDF |
| 光譜范圍 | 0.35~14μm |
| 角度范圍 | ? Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85° ? Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350° ? Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85° ? Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360° |
| 角度精度 | 0.1° |
| 光譜濾波 | 標準商業(yè)化1英寸薄膜帶通濾光片 |
| 自動(dòng)化 | Θi，Φi，Θr，Φr，光源孔徑，濾光輪和樣品/參照X極 |
| 光源 | Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower |
| 檢測器 | Si, InGaAs, dual InSb/MCT |
| 本底噪聲 | <10-3sr-1 |
| 樣品尺寸 | 直徑1英寸圓片、粉末、液體 |
| 運行 | PC控制，全自動(dòng)測量 |
| 尺寸 | 53″W x 53″D x 75″H |
產(chǎn)地：美國
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