大連華洋分析儀器有限公司
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更新時(shí)間：2023-12-05 13:22:15瀏覽次數：112次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)M370掃描電化學(xué)工作站在掃描探針電化學(xué)領(lǐng)域中是一個(gè)全新的概念，以超高分辨率，非接觸式，空間分析電化學(xué)測量的特點(diǎn)而設計
M370掃描電化學(xué)工作站在掃描探針電化學(xué)領(lǐng)域中是一個(gè)全新的概念，以超高分辨率，非接觸式，空間分析電化學(xué)測量的特點(diǎn)而設計。
M370是一個(gè)模塊化的系統，可實(shí)現當今所有微區掃描探針電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區形貌測試：
- 掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)
- 掃描振動(dòng)電極測試(SVET)
- 掃描開(kāi)爾文(Kelvin)探針測試(SKP)
- 微區電化學(xué)阻抗測試(LEIS)
- 掃描電解液微滴測試(SDS)
- 非觸式微區形貌測試(OSP)
M370利用納米級分辨率的快速精確，閉環(huán)x,y,z定位系統，并連同一個(gè)便捷的數據采集系統使用戶(hù)依據自己的實(shí)驗選擇配置。此系統設計靈活且人體工程學(xué)設計方便確保池體，樣品和探針的進(jìn)入。
1.掃描電化學(xué)顯微鏡系統SECM370
SECM370是一款精密的掃描微電極系統，具有空間分辨率，在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。用于檢測，分析，或改變樣品在溶液中的表面和界面化學(xué)性質(zhì)。
| 應用 * 研究通過(guò)膜的流量 | |
2.掃描卡爾文探針測試系統SKP370
掃描卡爾文探針系統SKP370，是一種無(wú)接觸，無(wú)破壞性的儀器，可以用于測量導電，涂膜，或半導體材料，與樣品探針之間的功函差。這種技術(shù)是用一個(gè)振動(dòng)電容探針來(lái)工作的，通過(guò)調節一個(gè)外加的前級電壓測量樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和表面狀況相關(guān)。SKP的性質(zhì)使在潮濕環(huán)境甚至是氣態(tài)環(huán)境中也可以測量，將不可能研究變?yōu)楝F實(shí)。
| 應用 - 能量系統 | |
3.掃描振動(dòng)電極測試系統SVP370
SVP370(SVET)掃描振動(dòng)電極技術(shù)是一種非破壞性?huà)呙?，利用振?dòng)探針，測量電化學(xué)化學(xué)樣品表面產(chǎn)生的電特性。確保用戶(hù)可以實(shí)時(shí)測定和定量局部電化學(xué)反應以及腐蝕。
| 應用 * 生物活性監測 | |
4.微區電化學(xué)阻抗測試系統LEIS370
微區電化學(xué)阻抗測試系統結合了電化學(xué)阻抗EIS技術(shù)和微區掃描技術(shù)，可以精確的測試局部微區的阻抗以及相應參數。
| 應用 * 薄膜阻抗復雜成像 |  |
5.電解液微滴掃描系統SDS370
電解液微滴系統可以限定液體與樣品的接觸面，從而對于液滴與樣品直接接觸面內的電化學(xué)和腐蝕反應進(jìn)行測量。這樣就可以在空間分辨率上提供電化學(xué)活性，并使其限定在樣品特定量化表面。
| 應用 * 表征表面氧化物 |  |
6.非觸式微區形貌測試系統OSP370
使用非接觸式激光位移傳感器，OSP370模塊可快速準確地對非觸表面進(jìn)行高精度測量。在不接觸樣品表面的情況下，它可以在10mm的高度范圍內提供小于1微米高度分辨率的3D表面特寫(xiě)影像。
配件
各種可選配件，包括各種可選探針，可選池體(Environmental TriCellTM,μTriCellTM,和Shallow μTriCellTM)，長(cháng)工作距離光學(xué)視頻顯微鏡(VCAM2)和3D表面陰影渲染軟件(3DlsoPlotTM)。能配置到一個(gè)特定的應用程序并升級，使M370靈活，同時(shí)保持頂端的性能。
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