掃描電化學(xué)顯微系統（SECM）
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統（ic-SECM）
微區電化學(xué)阻抗測試系統(LEIS)
掃描振動(dòng)點(diǎn)擊測試系統（SVET）
電解液微滴掃描系統（SDS）
交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）
掃描開(kāi)爾文探針測試系統（SKP）
非觸式微區形貌測試系統（OSP）
出色的性能
快速精準的閉環(huán)定位系統為電化學(xué)掃描探針納米級研究的需求而特別設計。結合Uniscan 的混合型32-bit DAC技術(shù)，用戶(hù)可以選擇合適實(shí)驗研究的配置
和靈活的工作平臺
系統可提供9種探針技術(shù)，使得M470成為靈活的電化學(xué)掃描灘鎮工作平臺。
全面的附件
7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長(cháng)距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。
M470新產(chǎn)品特征
SECM自動(dòng)處理曲線(xiàn)
SECM用戶(hù)自定義處理曲線(xiàn)步長(cháng)變化
高分辨率讀取
手動(dòng)或自動(dòng)調節相位
M470同時(shí)具備如下特點(diǎn)：
傾斜校正
X或Y曲線(xiàn)相減（5階多項式）
2D或3D快速傅里葉變化
實(shí)驗，探針移動(dòng)和區域繪圖的自動(dòng)排序
圖形實(shí)驗測序引擎（GESE）
支持多區域掃描
所有實(shí)驗多個(gè)數據視圖
峰值分析
M470是由Uniscan儀器開(kāi)發(fā)的第四代掃描探針系統，具有更高規格和更多探針技術(shù)。
M470技術(shù)參數
工作站（所有技術(shù)）
掃描范圍（x,y,z） 大于100mm
掃描驅動(dòng)分辨率 0.1nm
閉環(huán)定位 線(xiàn)性零滯后編碼器，直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移
軸分辨率（x,y,z） 20nm
掃描速度 12.5mm/s
測量分辨率 32-bit@高達40MHz
壓電（ic-和ac-掃描探針技術(shù)）
振動(dòng)范圍 20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動(dòng)分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展 100μm
定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機電
掃描前端 500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)
功率 250W
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QQ:2568841715
